|
|
Stanovení přesnosti měření v nanometrologii
Šrámek, Jan ; Číp, Ondřej (oponent) ; Tykal, Miroslav (oponent) ; Jankových, Róbert (vedoucí práce)
Předkládaná disertační práce se zabývá měřením velmi malých rozměrů v nanometrologii pomocí dotykové nano-sondy, která je součástí třísouřadnicového měřicího stroje. V práci je prezentován nově vypracovaný přístup k problematice hodnocení přesnosti měření v oblasti přesného měření délky. Cílem práce je rozšíření možností měření prováděných na popisovaném přístroji a vytvoření návrhu postupu měření malých součástí včetně stanovení přesnosti měření tohoto přístroje při jeho použití v nanometrologii. Práce prezentuje nově vytvořený postup výpočtu nejistoty měření, který byl základní součástí stanovení přesnosti měření přesného třísouřadnicového měřicího stroje (dále jen nano-CMM). V první části disertační práce je uvedena analýza současného stavu v oblasti vyhodnocování přesnosti měření při realizaci přesných měření délky. Jsou zde definovány a popsány jednotlivé metody používané pro stanovení přesnosti měření nano-CMM. Je zde kladen důraz zejména na aparát stanovení nejistoty měření, kdy je čerpáno z autorových zkušeností z praxe metrologa pracujícího v laboratoři Oddělení Primární nanometrologie a technické délky Českého metrologického institutu v Brně (dále je ČMI Brno). Druhá část disertační práce se zaměřuje na vlastní problematiku stanovení přesnosti délkových měření v nanometrologii s důrazem na provedení souboru měření za dodržení podmínek reprodukovatelnosti a opakovatelnosti. Je zde rovněž popsán a vyzkoušen konkrétní simulační proces, kdy se pomocí metody Monte Carlo provádí simulaci měřicího systému nano-CMM za účelem doplnění nově vytvořeného aparátu pro stanovení nejistoty měření dotykovou nano-sondou na tomto přístroji. Podstatnou součástí této části disertační práce je podrobné vyhodnocení výsledků měření z provedených experimentů za dodržení podmínek opakovatelnosti a reprodukovatelnosti a zejména potřeby stanovení nejistoty měření nano-CMM. Nejistota měření je v disertační práci vyjádřena pro kvantifikaci přesnosti měření tohoto přístroje. Závěr práce shrnuje získané poznatky v oblasti provedeného vědeckého výzkumu včetně jejich vyhodnocení v rámci zvolené metodiky pro stanovení přesnosti měření v nanometrologii. Naznačuje budoucí postup možný v oblasti výzkumu i praktického použití v oblasti metrologické návaznosti a provádění vysoce přesných měření pro zákazníky. Zabývá se i možností využití dalších snímacích systémů použitelných na zkoumaném nano-CMM.
|
|
|
Návrh interní metodiky pro měření výrobků a dílů na přístroji CMM UPMC Zeiss na pracovišti ČMI Brno
Hájková, Alena ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá návrhem interní metodiky pro měření výrobků a dílů na přístroji CMM UPMC Zeiss na pracovišti Českého metrologického institutu v Brně (dále jen ČMI Brno). V první části této práce je analyzován současný stav poznání v oblasti přesného měření na souřadnicových měřících strojích (dále jen CMM), který zahrnuje vymezení základních metrologických pojmů, metodiku stanovení a vyjadřování nejistot měření a obecný popis CMM. V diplomové práci je dále uveden detailní popis přístroje UPMC 850 CARAT S-ACC od firmy Zeiss a jsou zde shrnuty požadavky na zkušební laboratoř v souladu s normou ČSN EN 17 025:2018. Další část práce je zaměřena na definování a stanovení nejistot měření pro tento CMM a na vypracování návrhu zkušebního postupu pro měření na zmíněném stroji. Závěr práce shrnuje dosažené výsledky a doporučení pro praxi.
|
|
|
Návrh interní metodiky pro měření výrobků a dílů na přístroji CMM UPMC Zeiss na pracovišti ČMI Brno
Hájková, Alena ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá návrhem interní metodiky pro měření výrobků a dílů na přístroji CMM UPMC Zeiss na pracovišti Českého metrologického institutu v Brně (dále jen ČMI Brno). V první části této práce je analyzován současný stav poznání v oblasti přesného měření na souřadnicových měřících strojích (dále jen CMM), který zahrnuje vymezení základních metrologických pojmů, metodiku stanovení a vyjadřování nejistot měření a obecný popis CMM. V diplomové práci je dále uveden detailní popis přístroje UPMC 850 CARAT S-ACC od firmy Zeiss a jsou zde shrnuty požadavky na zkušební laboratoř v souladu s normou ČSN EN 17 025:2018. Další část práce je zaměřena na definování a stanovení nejistot měření pro tento CMM a na vypracování návrhu zkušebního postupu pro měření na zmíněném stroji. Závěr práce shrnuje dosažené výsledky a doporučení pro praxi.
|
|
|
Stanovení přesnosti měření v nanometrologii
Šrámek, Jan ; Číp, Ondřej (oponent) ; Tykal, Miroslav (oponent) ; Jankových, Róbert (vedoucí práce)
Předkládaná disertační práce se zabývá měřením velmi malých rozměrů v nanometrologii pomocí dotykové nano-sondy, která je součástí třísouřadnicového měřicího stroje. V práci je prezentován nově vypracovaný přístup k problematice hodnocení přesnosti měření v oblasti přesného měření délky. Cílem práce je rozšíření možností měření prováděných na popisovaném přístroji a vytvoření návrhu postupu měření malých součástí včetně stanovení přesnosti měření tohoto přístroje při jeho použití v nanometrologii. Práce prezentuje nově vytvořený postup výpočtu nejistoty měření, který byl základní součástí stanovení přesnosti měření přesného třísouřadnicového měřicího stroje (dále jen nano-CMM). V první části disertační práce je uvedena analýza současného stavu v oblasti vyhodnocování přesnosti měření při realizaci přesných měření délky. Jsou zde definovány a popsány jednotlivé metody používané pro stanovení přesnosti měření nano-CMM. Je zde kladen důraz zejména na aparát stanovení nejistoty měření, kdy je čerpáno z autorových zkušeností z praxe metrologa pracujícího v laboratoři Oddělení Primární nanometrologie a technické délky Českého metrologického institutu v Brně (dále je ČMI Brno). Druhá část disertační práce se zaměřuje na vlastní problematiku stanovení přesnosti délkových měření v nanometrologii s důrazem na provedení souboru měření za dodržení podmínek reprodukovatelnosti a opakovatelnosti. Je zde rovněž popsán a vyzkoušen konkrétní simulační proces, kdy se pomocí metody Monte Carlo provádí simulaci měřicího systému nano-CMM za účelem doplnění nově vytvořeného aparátu pro stanovení nejistoty měření dotykovou nano-sondou na tomto přístroji. Podstatnou součástí této části disertační práce je podrobné vyhodnocení výsledků měření z provedených experimentů za dodržení podmínek opakovatelnosti a reprodukovatelnosti a zejména potřeby stanovení nejistoty měření nano-CMM. Nejistota měření je v disertační práci vyjádřena pro kvantifikaci přesnosti měření tohoto přístroje. Závěr práce shrnuje získané poznatky v oblasti provedeného vědeckého výzkumu včetně jejich vyhodnocení v rámci zvolené metodiky pro stanovení přesnosti měření v nanometrologii. Naznačuje budoucí postup možný v oblasti výzkumu i praktického použití v oblasti metrologické návaznosti a provádění vysoce přesných měření pro zákazníky. Zabývá se i možností využití dalších snímacích systémů použitelných na zkoumaném nano-CMM.
|
|
|
Počítačem podporovaná výuka fyziky
JIROUT, Jiří
Bakalářská práce "Počítačem podporovaná výuka fyziky" popisuje využití počítače a moderní didaktické techniky ve vyučování. Teoretická část popisuje názornost ve vyučování a informační a komunikační technologie při výuce fyziky. Dále je zde popsána didaktická analýza vybraného tematického celku Měření délky a následně navrženy elektronické doplňky pro výuku vybraného učiva. Těžištěm praktické části je vytvoření materiálů pro domácí přípravu a zkoušení žáků. Následně je zjišťováno, jak žáci hodnotí využívání moderní didaktické techniky přímo ve vyučovacích hodinách a domácí přípravě.
|
host ::
RSS.