Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 36 záznamů.  začátekpředchozí19 - 28další  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Pracoviště pro testování solárních článků metodou LBIC
Harašta, Tomáš ; Jandová, Kristýna (oponent) ; Fořt, Tomáš (vedoucí práce)
Obsahem této diplomové práce je úvod do solární problematiky, s následným zaměřením na solární články a reflexe jejich vad. Další část je věnována diagnostické metodě LBIC (Light Beam Induced Current), která pomáhá zjišťovat vady solárních článků. Práce se zabývá aplikací této metody v komplexním pohledu, od sestavení pracoviště, přes hardware po software. Poslední část je zaměřena na výsledky měření a analýzu.
Studium lomové houževnatosti a opotřebení tenkého MoBC povlaku v dynamickém režimu
Buršíková, V. ; Grossman, Jan ; Fořt, Tomáš ; Souček, P. ; Zábranský, L. ; Buršík, Jiří ; Vašina, P. ; Dupák, Libor ; Sobota, Jaroslav
Cílem této práce bylo studium mechanických vlastností tenkých amorfních MoBC nátěrů a MoBC s povrchovou úpravou z nanokrystalického Mo2BC vloženýcg do amorfní MoBC matrice. Tvrdost amorfních MoBC povlaků (20 GPa) je srovnatelná s běžnými amorfnímu diamantu podobných uhlíkových povlaků, ale jejich modul pružnosti, jakož i lomová houževnatost a tažnost jsou výrazně vyšší. Magnetronové naprašování ze tří cílů, B4C, C a Mo, pro MoBC bylo použito pro přípravu povlaků. Cílem této práce bylo studovat mechanické a tribologických vlastností MoBC povlaků nanesených na vysokorychlostní ocelový substrát. Klasifikace MoBC povlaků byla provedena za použití dopadu testeru v dynamickém režimu a umožnilo nám předvídat, jak provozní zatížení způsobuje destrukci povlaku.
Detekce středu interferenčního proužku v interferometrii nízké koherence
Pikálek, Tomáš ; Fořt, Tomáš ; Buchta, Zdeněk
Interferometrie nízké koherence je moderní diagnostická metoda využívaná např. k bezkontaktní analýze profilu povrchů, měření tloušťky tenkých vrstev nebo i ke kalibraci koncových měrek. [1, 2] Základní úlohou v interferometrii nízké koherence je při použití Michelsonova interferometru najít takovou polohu měřicího zrcadla, při které jsou optické dráhy v obou větvích interferometru stejné, tedy nalézt střed bílého interferenčního proužku. Při použití pole fotodetektorů na výstupu interferometru je pak tímto způsobem možné získat informaci o struktuře analyzovaného povrchu. Článek se zaměřuje na metody, které analyzují intenzitu na výstupu interferometru v závislosti na poloze měřicího zrcadla. Tyto metody je možné obecně rozdělit na metody detekující v interferenčním signálu maximum a metody detekující maximum obálky signálu.
Dynamic impact tester of hard thin coatings
Grossman, Jan ; Dupák, Libor ; Fořt, Tomáš ; Sobota, Jaroslav
An impact test has been used to evaluate the impact wear resistance of nanostructured hard coatings using a system developed at the Institute of Scientific Instruments in collaboration with the Brno University of Technology. After the test, wear scars were evaluated by means of scanning electron microscope, spectral analyses and profilometer. The impact test offers an important new method for the determination of both the fracture toughness and wear behaviour of hard thin coatings.
Institute of Scientific Instruments: An Overview Presenatation
Kolařík, Vladimír ; Zobač, Martin ; Fořt, Tomáš ; Vlček, Ivan ; Dupák, Libor ; Mikmeková, Šárka ; Mikmeková, Eliška ; Mrňa, Libor ; Horáček, Miroslav ; Sobota, Jaroslav
The aim of this contribution is to present the Institute of Scientific Instrument of the Academy of Sciences of the Czech Republic, mainly from the potential of applied research viewpoint. It covers mainly the six application fields including material study of metals and alloys, nano layer residual stress observation methods, 2 kW fibre laser, impact testing of hard coatings, e-beam welding, machining and engraving, and finally e-beam lithography. Recently achieved results as well as the new application potential are presented. Furthermore, each topic is assumed to have a separate presentation prepared in more details within this event. A brief overview follows. Scanning low energy electron microscopy (SLEEM) is increasingly becoming recognized as a valuable analytical tool in the field of materials science. The SLEEM is also used for observation of compressive stress in nano layers that leads to wrinkling and film delamination. Using the fibre laser, we can offer 3D laser welding and cutting of various type of materials and laser surface hardening too. For the hard coatings testing and evaluation of their impact resistance a new method was suggested (Dynamic Impact Wear Test). During testing the specimen is cyclically loaded by tungsten carbide ball that impacts of the coating/substrate surface. In house e-beam welding machine allows for welding, machining, engraving and other utilizations of intense electron beam. The group of micro lithography is able to prepare micro and nano structures in thin layers of metals and other materials; including the characterization of the realized structures
Comparison of techniques for diffraction grating topography analysis
Matějka, Milan ; Rek, Antonín ; Mika, Filip ; Fořt, Tomáš ; Matějková, Jiřina
There are a wide range of analytical techniques which may be used for surface structure characterization. For high resolution surface investigations, two commonly used techniques are Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM). Both techniques are capable resolve surface structure down to the nanometer in scale. However the mechanism of topography imaging and type of information acquired is different.
Optical and scanning electron microscopies in examination of ultrathin foils
Konvalina, Ivo ; Hovorka, Miloš ; Fořt, Tomáš ; Müllerová, Ilona
Very low energy scanning transmission electron microscopy is emerging as a novel tool for examination of ultrathin foils to learn more about the electron structure of solids. The electron micrographs provide image contrasts governed by the effective thickness of the sample proportional to the inner potential and at lowest energies the local density of electron states in the direction of impact of the electron wave starts to dominate. The optical methods are used during the sample preparation. The laser confocal microscope Olympus Lext OLS 3100 was used for preliminary observations of the 3 nm C foil prepared by magnetron sputtering in nitrogen atmosphere on a flat glass covered by a disaccharide layer.
Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Müllerová, Ilona ; Hovorka, Miloš ; Fořt, Tomáš ; Frank, Luděk
For examination of thin films by transmitted electrons (TE) the Transmission Electron Microscope is used at primary beam energies in hundreds of keV. The Scanning Electron Microscopes (SEM) utilize reflected electrons in order to image surfaces but recently the TE mode has been introduced into SEM at much lower electron energies.
Naprašované vrstvy SiNx:H s leptáním mono-Si povrchu v plazmatickém H2
Hégr, O. ; Boušek, J. ; Fořt, Tomáš ; Sobota, Jaroslav ; Vavruňková, V. ; Bařinka, R. ; Poruba, A.
Příspěvek se zabývá čištěním, aktivací a schopností hydrogenace povrchu monokrystalického křemíku plazmatickým leptáním. Za použití vstupních plynů Ar/H2 je možné na křemíkovém povrchu iniciovat chemické reakce působící podobně, jako je tomu při použití standardního chemického leptacího roztoku. Proces je kombinován s depozicí vrstev SiNx:H nanášených na povrch leptaný v plasmě.
Charakterizace solárních multikrystalických článků metodou LBIC s různými vlnovými délkami
Fořt, Tomáš ; Jandová, K. ; Vaněk, J. ; Boušek, J.
Pro určování defektů v solárních článcích byla použita metoda LBIC (Light Beam Induced Current). Nově zde bylo využito jako zdroj světla LED o různých vlnových délkách pro odhalení odlišných typů defektů. Výhodou použití více vlnových délek je možnost odhalování defektů v různé hloubce. Povrchové defekty lze pozorovat při krátkých vlnových délkách použitého zdroje světla (400nm a 470nm). Oblast přechodu je pak dobře pozorovatelná při vlnových délkách blízkých 525nm. Pro oblast defektů v základním materiálu je vhodné použití světla s vlnovou délkou 630nm nebo 890nm.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 36 záznamů.   začátekpředchozí19 - 28další  přejít na záznam:
Viz též: podobná jména autorů
2 Fořt, Tadeáš
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.