Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 6 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Mikroskopie atomárních sil polotuhých materiálů
Šudáková, Anna ; Havlíková, Martina (oponent) ; Smilek, Jiří (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá prostudováním postupu měření a optimalizací podmínek měření pomocí mikroskopu atomárních sil (AFM) s budoucím výhledem na zobrazování a měření mechanických vlastností (např. adheze nebo tuhost materiálu) hydrogelů a polotuhých materiálů na mikroúrovni. Mikroskopie atomárních sil nabývá významu ve výzkumech vzhledem k univerzálnosti metody, kdy je schopná zobrazovat vodivé i nevodivé vzorky, ale zároveň měřit i jejich mechanické vlastnosti, jako je adheze, elasticita nebo tuhost. Výhodou oproti jiným metodám je, že AFM je schopné měřit mechanické vlastnosti nejen na makroúrovni, ale také na lokální úrovni. Optimalizace měřících módů se prováděla na standardním vzorku polystyrenových nanočástic o velikosti jeden mikrometr, kdy byly proměřeny jednotlivé režimy, jako jsou bezkontaktní metoda (noncontact mode, AC Mode Imaging) a kvantitativním režimem měření (QITM Advanced Imaging), kterými lze měřit pomocí AFM. Následovalo měření PVA fólií, měření se provádělo z důvodu toho, že se jednalo o vysušené hydrogely (xerogely), což bude zájmem dalšího studování. Byly vytvořeny z polyvinylalkoholu a chitosanu. Vnitřní prostředí hydrogelů bylo modifikováno úpravou pH (NaOH) nebo změnou iontové síly (NaCl). Dále byl pozorován vliv mrazení na PVA fólii, jedná se o jednu z možností přípravy fyzikálně síťovaného hydrogelu. Tato práce zkoumá také vliv koncentrace fyzikálně síťovaného termoreverzibilního agarosového gelu na jeho porozitu.
Hodnocení drsnosti povrchu kontaktní a bezkontaktní metodou
Špačková, Magda ; Hammer, Miloš (oponent) ; Jankových, Róbert (vedoucí práce)
Bakalářská práce obsahuje přehled metod hodnocení profilových parametrů drsnosti povrchu. Bezkontaktním přístrojem Talysurf CCI Lite a kontaktním přístrojem Taylor Hobson Surtronic 25 bylo provedeno měření dvanácti vzorků. Na základě těchto měření byla provedena analýza rozdílů výsledků hodnocení vybraných profilových parametrů. V závěru práce jsou uvedena doporučení pro praxi při použití kontaktních a bezkontaktních přístrojů pro hodnocení drsnosti povrchu.
Bezkontaktní hodnocení textury povrchu
Svoboda, Martin ; Rebenda, David (oponent) ; Svoboda, Petr (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá bezkontaktním hodnocením textury povrchu. Cílem práce je rešeršní popis problematiky parametrů textury povrchu a bezkontaktních metod jejich měření. Pozornost je převážně věnována předpisům vhodných parametrů pro funkční plochy dle jejich aplikace. V závěru této práce jsou zpracována obecná doporučení pro výběr vhodných parametrů textury povrchu k funkčním plochám, která jsou následně aplikována na konkrétní příklady. Bylo zjištěno, že k důkladnému popisu funkčních ploch je zapotřebí značného množství parametrů a nákladných experimentálních výzkumů, a proto dosavadní hodnocení drsnosti povrchu pomocí parametru Ra případně Sa je příhodné.
Mikroskopie atomárních sil polotuhých materiálů
Šudáková, Anna ; Havlíková, Martina (oponent) ; Smilek, Jiří (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá prostudováním postupu měření a optimalizací podmínek měření pomocí mikroskopu atomárních sil (AFM) s budoucím výhledem na zobrazování a měření mechanických vlastností (např. adheze nebo tuhost materiálu) hydrogelů a polotuhých materiálů na mikroúrovni. Mikroskopie atomárních sil nabývá významu ve výzkumech vzhledem k univerzálnosti metody, kdy je schopná zobrazovat vodivé i nevodivé vzorky, ale zároveň měřit i jejich mechanické vlastnosti, jako je adheze, elasticita nebo tuhost. Výhodou oproti jiným metodám je, že AFM je schopné měřit mechanické vlastnosti nejen na makroúrovni, ale také na lokální úrovni. Optimalizace měřících módů se prováděla na standardním vzorku polystyrenových nanočástic o velikosti jeden mikrometr, kdy byly proměřeny jednotlivé režimy, jako jsou bezkontaktní metoda (noncontact mode, AC Mode Imaging) a kvantitativním režimem měření (QITM Advanced Imaging), kterými lze měřit pomocí AFM. Následovalo měření PVA fólií, měření se provádělo z důvodu toho, že se jednalo o vysušené hydrogely (xerogely), což bude zájmem dalšího studování. Byly vytvořeny z polyvinylalkoholu a chitosanu. Vnitřní prostředí hydrogelů bylo modifikováno úpravou pH (NaOH) nebo změnou iontové síly (NaCl). Dále byl pozorován vliv mrazení na PVA fólii, jedná se o jednu z možností přípravy fyzikálně síťovaného hydrogelu. Tato práce zkoumá také vliv koncentrace fyzikálně síťovaného termoreverzibilního agarosového gelu na jeho porozitu.
Bezkontaktní hodnocení textury povrchu
Svoboda, Martin ; Rebenda, David (oponent) ; Svoboda, Petr (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá bezkontaktním hodnocením textury povrchu. Cílem práce je rešeršní popis problematiky parametrů textury povrchu a bezkontaktních metod jejich měření. Pozornost je převážně věnována předpisům vhodných parametrů pro funkční plochy dle jejich aplikace. V závěru této práce jsou zpracována obecná doporučení pro výběr vhodných parametrů textury povrchu k funkčním plochám, která jsou následně aplikována na konkrétní příklady. Bylo zjištěno, že k důkladnému popisu funkčních ploch je zapotřebí značného množství parametrů a nákladných experimentálních výzkumů, a proto dosavadní hodnocení drsnosti povrchu pomocí parametru Ra případně Sa je příhodné.
Hodnocení drsnosti povrchu kontaktní a bezkontaktní metodou
Špačková, Magda ; Hammer, Miloš (oponent) ; Jankových, Róbert (vedoucí práce)
Bakalářská práce obsahuje přehled metod hodnocení profilových parametrů drsnosti povrchu. Bezkontaktním přístrojem Talysurf CCI Lite a kontaktním přístrojem Taylor Hobson Surtronic 25 bylo provedeno měření dvanácti vzorků. Na základě těchto měření byla provedena analýza rozdílů výsledků hodnocení vybraných profilových parametrů. V závěru práce jsou uvedena doporučení pro praxi při použití kontaktních a bezkontaktních přístrojů pro hodnocení drsnosti povrchu.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.