Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"SiNX"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Nanostructured layer enhancing light extraction from GaN-based scintillator using MOVPE
 Vaněk, Tomáš ; Hubáček, Tomáš ; Hájek, František ; Dominec, Filip ; Pangrác, Jiří ; Kuldová, Karla ; Oswald, Jiří ; Hospodková, Alice
Light extraction (LE) efficiency of GaN buffer layer was studied by angle-resolved photoluminescence. We measured enhancement of light extraction efficiency (LEE) up to 154% by introducing the SiNx layer atop the GaN buffer and subsequent GaN light extraction layer (LEL) overgrowth. Morphological properties of GaN.
Úplný záznam
Impact of the SiNx Thickness on Passivation Quality and Contact Resistivity of Silicon Solar Cell
 Mojrová, Barbora
In this work the influence of thickness of Silicon Nitride (SiNX) layer deposited by Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition (PECVD) on passivation quality and contact resistivity (ρC) of n-type Passivated Emitter Rear Totally-diffused (n-PERT) cell was investigated. The solar cell structure comprises front boron emitter and a phosphorous back surface field (BSF) with SiNX layers on both sides for surface passivation. Contacts are made by screen printed and fired through metallization using commercial silver (Ag) paste.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English