Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 5 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Růst organických polovodičů na povrchu polykrystalických fólií
Weisz, Hugo ; Průša, Stanislav (oponent) ; Procházka, Pavel (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá využitím stříbrných a měděných polykrystalických fólií jako substrátu pro depozici 4,4’-bifenyl-dikarboxylové kyseliny (BDA). Úvodní část experimentální práce je zaměřena na využití různých metod čištění polykrystalických fólií, zejména v podmínkách ultravysokého vakua. Stříbrné a měděné polykrystalické fólie byly, před i po depozici molekul, charakterizovány fotoemisní elektronovou mikroskopií (PEEM z anglického „photoemission electron microscopy“) a nízkoenergiovou elektronovou mikroskopií (LEEM z anglického „low-energy electron microscopy“).
Electron optical properties of the cathode lens combined with a focusing magnetic/immersion-magnetic lens
Konvalina, Ivo ; Hovorka, Miloš ; Müllerová, Ilona
Cathode lens (CL) is an electron optical element commonly used in the photo-emission electron microscopy (PEEM), low energy electron microscopy (LEEM) and last but not least in the scanning electron microscopy (SEM). We have used the EOD software for calculation of aberration coefficients for the sequential and overlapped fields.
Profiling of N-Type Dopants in Silicon Based Structures
Hovorka, Miloš ; Mika, Filip ; Frank, Luděk ; Mikulík, P.
We have focused on variously doped n-type pattems on a lightly doped p-type substrate because of lack of data for these structures. We have designed and prepared planar structures of this kind at the university clean room. Combination of the UHV SEM and PEEM microscooes should facilitate possible quantifying of the the doping levels in the n-type areas and explanation of their contrast with respect to the p-type substrate. In addition to the SEM observations at very low energies (down to the units of eV), we performed the laterally resolved threshold and soft X-ray spectroscopies in a PEEM equipped with an energy filter.
Možnosti zobrazení dopovaných křemíkových struktur v PEEM a LVSEM
Hovorka, Miloš ; Mika, Filip ; Frank, Luděk
Studium dotovaných křemíkových struktur s využitím fotoemisní mikroskopie a nízkonapěťové rastrovací elektronové mikroskopie.
Kontrast dopantu – otázka pro elektronovou mikroskopii
Frank, Luděk
Je podán přehled výsledků získaných při zobrazování dopovaných oblastí v křemíku pomocí různých elektronově mikroskopických metod. Pojednáno je o zobrazování sekundárními elektrony v konvenčním rastrovacím elektronovém mikroskopu a v tomtéž mikroskopu vybaveném katodovou čočkou, zobrazování pomocí velmi pomalých zpětně odražených elektronů za pomoci katodové čočky, a zobrazování ve fotoelektronovém emisním mikroskopu. Naznačena je důležitá úloha místních rozdílů v intenzitě absorpce excitovaných horkých elektronů podél jejich trajektorie směrem k povrchu v mechanismu vzniku obrazového kontrastu.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.