keywords:"IEC 61508" - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"IEC 61508"

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	Functional safety in the process industry from the perspective of a system integrator Malysa, Matěj ; Štohl, Radek (oponent) ; Fiedler, Petr (vedoucí práce) This thesis summarizes the requirements and key concepts of international standards IEC 61508 and IEC 61511, the relationship between them and their differences. Furthermore, this thesis describes the scope of supply from the point of view of an international contracting company. The thesis also describes the development of a safety instrumented system, the execution process of a safety project including documentation and its testing and verification. Úplný záznam
	Samočinné testování mikrokontrolerů Denk, Filip ; Šimek, Václav (oponent) ; Strnadel, Josef (vedoucí práce) Práce se zabývá funkční bezpečností elektronických systémů. Konkrétně se zaměřuje na samočinné testování mikroprocesoru a jeho periferií na softwarové úrovni. Cílem práce je navrhnout a implementovat soubor funkcí v jazyce C nebo v jazyce symbolických adres, které samočinně testují zvolené oblasti mikrokontroléru. Prostředky a metody použité v implementovaném řešení si také kladou za cíl splnit požadavky popsané v normě IEC 60730-1, příloha H, softwarová třída B. Zvolenou hardwarovou platformou je mikrokontrolér NXP LPC55S69, jež obsahuje dvě jádra ARM Cortex-M33. Výsledkem je demonstrační aplikace, která v průběhu vykonávání využívá implementované testovací funkce. Součástí je také uživatelské prostředí s možností injekce chyb. Úplný záznam
	Samočinné testování mikrokontrolerů Denk, Filip ; Šimek, Václav (oponent) ; Strnadel, Josef (vedoucí práce) Práce se zabývá funkční bezpečností elektronických systémů. Konkrétně se zaměřuje na samočinné testování mikroprocesoru a jeho periferií na softwarové úrovni. Cílem práce je navrhnout a implementovat soubor funkcí v jazyce C nebo v jazyce symbolických adres, které samočinně testují zvolené oblasti mikrokontroléru. Prostředky a metody použité v implementovaném řešení si také kladou za cíl splnit požadavky popsané v normě IEC 60730-1, příloha H, softwarová třída B. Zvolenou hardwarovou platformou je mikrokontrolér NXP LPC55S69, jež obsahuje dvě jádra ARM Cortex-M33. Výsledkem je demonstrační aplikace, která v průběhu vykonávání využívá implementované testovací funkce. Součástí je také uživatelské prostředí s možností injekce chyb. Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English