Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 103 záznamů.  začátekpředchozí84 - 93další  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Organické materiály pro molekulární kvantové bity: depozice a analýza chemického složení a morfologie vrstev
Komora, Mojmír ; Mach, Jindřich (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
Táto bakalárska práca sa zaoberá experimentálnou prípravou a analýzou ultratenkých vrstiev železných phtalocyaninov na povrchu kremíkových substrátov s cieľom popísania parametrov vrstiev pri rôznych podmienkách depozície, ako depozičný čas alebo teplota substrátu. Príprava vzoriek prebiehala pomocou metódy MBE vo vakouvej aparatúre za podmienok ultravysokého vákua. Ako analytické metódy na popis chemického zloženia a morfológie pripravených vrstiev boli zvolené metódy röntgenovej fotoelektrónovej spektroskopie, rastrovacej elektrónovej mikroskopie a mikroskopie atomárnych síl.
Růst epitaxních kobaltových (CoSi2) ostrůvků pomocí epitaxe řízené oxidovou vrstvou
Stará, Veronika ; Kolíbal, Miroslav (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá studiem přípravy a růstu kobaltových tenkých vrstev. Jako substrát byla použita křemíková deska s orientací (111) pokrytá tenkou vrstvou nativního oxidu SiO2. Pro růst kobaltové vrstvy byla využita metoda epitaxe řízené oxidovou vrstvou. Jako zdroj kobaltových atomů byla využita efuzní cela. Byla zkoumána závislost složení a morfologie substrátu na teplotě žíhání. Dalším bodem výzkumu bylo určení závislosti výsledného vzhledu ostrůvků na množství deponovaného materiálu a orientaci substrátu. Připravené struktury byly zkoumány využitím rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS), mikroskopie atomárních sil (AFM), rastrovací elektronové mikroskopie (SEM). Abychom změřili tloušťku podpovrchových ostrůvků, byly připravené vzorky leptané v bufrované kyselině fluorovodíkové a následně analyzované pomocí zmíněných metod.
Mechanická aktivace chemických reakcí na fázových rozhraních MDF kompozitu
Matoušek, David ; Másilko, Jiří (oponent) ; Šoukal, František (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá studiem mechanické aktivace chemických reakcí na fázovém rozhraní MDF kompozitů. MDF kompozity jsou perspektivním kompozitním materiálem na bazi polymer-cement. Vynikají zejména z hlediska pevností v tahu za ohybu. Za vysokými pevnostmi stojí vazebné interakce mezi polymerem a cementem, které vznikají v důsledku mechanické aktivace surovinové směsi ve fázi výroby. Práce se zaměřuje na umělé vytvoření fázového rozhraní cement-polymer prostřednictvím styku ploch dvou vylisovaných tablet (polyvinylalkoholové a monokalcium aluminátové) a jeho aktivaci pomocí speciálně zkonstruovaného přístroje, který dosahuje dobré planparalelnosti aktivačních ploch a definovatelnost aktivačních podmínek (smyková rychlost, tlak). Po provedení experimentů mechanické aktivace za rozdílných podmínek jsou fázová rozhraní analyzována pomocí SEM, EDS, XPS a FT-IR.
Převod platformy NetCOPE do EDK
Palička, Jan ; Košař, Vlastimil (oponent) ; Viktorin, Jan (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zaobírá převodem platformy NetCOPE do Xilinx Embedded Development Kit (EDK). Hlavním úkolem je vytvoření anotace hardware platformy NetCOPE pro její použití v prostředí EDK. Před samotnou implementací anotace je nutné nastudovat technologii FPGA, platformu NetCOPE a formát PSF pro anotaci IP-core platformy NetCOPE.
Analýza povrchů pevných látek pomocí fotoelektronů - počítačové řízení experimentů
Polčák, Josef ; Zemek, Josef (oponent) ; Cháb, Vladimír (oponent) ; Šikola, Tomáš (vedoucí práce)
Dizertační práce se zabývá metodami pro výzkum povrchů pevných látek za použití fotoelektronů emitovaných rentgenovým zářením. Jedná se o metody rentgenové fotolektronové spektroskopie - XPS, úhlově závislé XPS - ARXPS a rentgenové fotoelektronové difrakce - XPD. Práce se zaměřuje především na metodu ARXPS, která slouží k analýze hloubkového složení povrchu vzorků. Pro získávání informace o hloubkovém složení z naměřených spekter ARXPS byl vytvořen výpočetní software v prostředí Matlab, který byl testován na simulovaných datech a také na reálných vzorcích. Pro realizaci uvedených fotoelektronových metod byl navržen kompletní manipulační systém, který zabezpečuje transport vzorků ve vakuové aparatuře a také realizaci experimentů uvedenými metodami. Systém je z velké části řízen elektronicky pomocí vytvořeného ovládacího softwaru v počítači a umožňuje provádět tyto experimenty automatizovaně.
Polymerní kompozity s vyššími užitnými vlastnostmi
Bábík, Adam ; Lapčík,, Lubomír (oponent) ; Prokeš, Jan (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
Polymerní kompozity s vyššími užitnými vlastnostmi jsou materiály, u kterých je kladen důraz na specifické chemické a mechanické vlastnosti s ohledem na jejich širokou míru uplatnění. Jejich hlavními výhodami jsou vysoká pevnost a houževnatost v porovnání s jejich nízkou hmotností a hustotou. Pro dobré výsledné vlastnosti je třeba zajistit vysokou adhezi výztuže a matrice na jejich mezifázovém rozhraní byly připraveny vrstvy plazmově polymerovaného tetravinylsilanu (pp-TVS) na svazky skleněných vláken při různé tloušťce a efektivním výkonu. Připravené vrstvy pp-TVS byly analyzovány z hlediska chemického složení (RBS, FTIR, XPS) a také mechanických vlastností (NI-AFM). Pro posouzení míry adheze byly použity testy pro smykovou pevnost na rozhraní a test vytrhávání svazku vláken na rozhraní vlákno matrice.
Selektivní růst kovových materiálů.
Šimíková, Michaela ; Schneeweiss, Oldřich (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce pojednává o studiu selektivního růstu tenkých vrstev kobaltu na Si(111) s tenkou vrstvou oxidu křemičitého na mřížkách, které byly vytvořeny metodou fokusovaného iontového svazku, a o růstu a morfologii tenké vrstvy železa rostoucí na substrátu Si/SiO2 bez úpravy. Dále jsou zkoumány vrstvy a-C:H, vliv depozičních parametrů na jejich vlastnosti a poměr vazeb sp2 a sp3. Pro analýzu těchto vrstev jsou použity metody XPS, AFM a SEM.
Vývoj atomárních a iontových svazkových zdrojů
Šamořil, Tomáš ; Lencová, Bohumila (oponent) ; Mach, Jindřich (vedoucí práce)
Úkolem diplomové práce bylo provedení optimalizace iontově-atomárního zdroje, která povede ke zlepšení vlastností iontově-atomárního svazku. Zlepšení parametrů svazku zvyšuje účinnost iontově-atomárního zdroje při depozicích ultratenkých gallium nitridových vrstev (GaN), jež jsou důležité pro výzkum v oblasti mikroelektroniky a optoelektroniky. Po uskutečnění optimalizace byly při nižších teplotách substrátu (
Deposition and analysis of DLC thin films
Rudolf, Miroslav ; Čech, Vladimír (oponent) ; Šikola, Tomáš (vedoucí práce)
Diploma thesis outlines the problems during preparation and analysis of DLC:H thin films. Many scientists have been interested in these films already for several decades. In the present time, many techniques exist for their preparation and analysis. The preparation of DLC has a significant influence on their characteristics and applications. There are many criteria how to examine the films. In this thesis, the DLC:H layers prepared on the crystalline silicon by the RF-PECVD method are discussed. Subsequently, the mechanical, tribological and optical properties have been investigated. The techniques as XPS, Raman spectroscopy, reflectometry, hardness and adhesion measurements have been employed. A part of the thesis deals with the modelling of DLC and DLC:H films from the first principles. The first-principle simulation software Abinit is used for this purpose. Abinit has been distributed under the GPL. The way of selection of input parameters has been studied with respect to the convergence of the results. Attention has been paid to computing the vibrational spectra in the middle of the Brillouin zone and the overall density of electronic states of DLC cluster in a cubic supercell. These data can be compared with results experimentally obtained from Raman spectroscopy and XPS of the valence band, respectively.
Selektivní růst kovových materiálů na čistých a oxidovaných substrátech.
Koňáková, Kateřina ; Cháb, Vladimír (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce pojednává o studiu morfologie tenké vrstvy kobaltu na čistém Si(111) a na Si(111) s tenkou vrstvou oxidu křemičitého pomocí metod AFM a XPS. Je také studií selektivního růstu kobaltu na mřížkách vytvořených pomocí fokusovaného iontového svazku a elektronové litografie. Dále je zkoumán růst kovových materiálů (Fe, Co) na povrchovém oxidu vytvořeném na Ni3Al(111).

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 103 záznamů.   začátekpředchozí84 - 93další  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.