Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 77 záznamů.  začátekpředchozí68 - 77  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Studium morfologie tenkých vrstev organických molekulárních látek
Schön, Martin ; Vala, Martin (oponent) ; Salyk, Ota (vedoucí práce)
Tato práce pojednává o studiu morfologie tenkých vrstev organických molekulárních látek. K přípravě tenkých vrstev byla použita metoda vakuového napařování. V teoretické části je popsána použitá vakuová technika a měřící přístroje. Ve druhé části je potom popsán samotný experiment. Vlastnosti a morfologie připravených vrstev jsou zkoumány především za použití rastrovacího elektronového mikroskopu (SEM). Byl zkoumán vliv teploty depozice a vzdálenost podložky od odpařovadla na morfologii vrstvy. Tenké vrstvy diketopyrrolopyrrolů (DPP) a jejich deriváty projevují zajímavé chemické i fyzikální vlastnosti a předpokládá se možnost jejich budoucího využití, především v elektronickém průmyslu.
The insoluble particles in water deposited from fog at Milešovka Observatory (Czech Republic)
Bartůňková, Kristýna ; Fišák, Jaroslav ; Stoyanova, V. ; Schoumkova, A.
This study concerns insoluble chemical pollution of fog at Milešovka Observatory in the Czech Republic. In period from August 2006 till July 2007, 25 fog samples at the top of Milešovka Mountain in České Středohoří Mountains were collected by active fog water collector. Water samples were filtered. From 53 to 116 particles from every sample were chosen according to the quantity of particles found in dried filters. Altogether it was more than 2000 particles. Particles were examined with the help of Scanning Electron Microscope and Energy Dispersive X-Ray Spectrometer to distinguish sizes, shapes and composition. After analyzing the data, statistical evaluation was made. Particles were put into categories according to their shapes on spherical and not spherical. Typical particles like Al, Si, K, Fe or Ca-rich particles were determined. Focus was also to particles with rarely represented elements like Ni, Au, Pb, Cu, Zr and Ba. Groups of typical insoluble particles were collated according to meteorological conditions - synoptic situations and wind directions which prevailed in the days of fog events in order to try to find out possible sources of this fog pollution.
Collection contrast in the immersion objective lens of the scanning electron microscope
Müllerová, Ilona ; Konvalina, Ivo ; Mika, Filip
Signal trajectories of secondary (SE) and backscattered electrons (BSE) were simulated for two cases: an immersion magnetic objective lens (OL) alone and for the case when an electrostatic immersion objective lens is added. Micrographs of a semiconductor structure are presented for these two set-ups.
Collection contrast in the immersion objective lens of the scanning electron microscope
Müllerová, Ilona ; Konvalina, Ivo ; Mika, Filip
Signal trajectories of secondary (SE) and backscattered electrons (BSE) were simulated for two cases: an immersion magnetic objective lens (OL) alone and for the case when an electrostatic immersion objective lens is added. Micrographs of a semiconductor structure are presented for these two set-ups.
Mrazová sublimace v kryonástavci Gatan Alto 2500 skenovacího elektronového mikroskopu JSM-7401F
MAROUŠEK, Roman
Tato diplomová práce se zabývá mrazovou sublimací v kryozařízení Gatan Alto 2500 ve spojení se skenovacím elektronovým mikroskopem (SEM) JEOL JSM-7401F. Práce se dělí na teoretickou a praktickou část. V teoretické části se zabývám především fyzikálními vlastnostmi vody a problematikou mrazového sušení. Popisuji také vlastnosti pomocných látek, které se využívají při práci s kryotechnologiemi. Stručně popisuji použitou techniku: kryozařízení Alto 2500 a SEM JSM-7401F. V praktické části se věnuji popisu metody, kterou jsem vypracoval za účelem změření úbytku hmotnosti zmrazené látky vlivem její sublimace ve vakuu. Uvádím výsledky měření sublimace pro látky: destilovaná voda, Dextran, glycerol a fosfátový pufr (PBS).
Prevence tvorby uhlovodíkové kontaminace v SEM
Dvořáková, Marie ; Mika, Filip
Kontaminace indukovaná elektronovým svazkem je jedním z nežádoucích efektů v SEM. V této práci byla kontaminace tvořena na vzorcích křemíku, mědi, hliníku, oceli a niklu. Kontaminace byla odstraněna metodou plazmového čištění (XEI Scientific Evactron De-Contaminator).
Pozorování vícevrstvých polovodičových struktur v rastrovacím elektronovém mikroskopu
Wandrol, Petr ; Matějková, Jiřina ; Autrata, Rudolf
Práce se zabývá problémy vznikajícími při pozorování polovodičových vzorků v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Zvláštní pozornost je věnována scintilačnímu detektoru zpětně odražených elektronů, který je pro tento účel velmi vhodný. Jednak díky možnosti pozorovat materiálový kontrast vzorku a tím přesně rozlišit jednotlivé vrstvy vzorku. A také protože se při snímání obrazu tímto detektorem neprojevuje tolik nabíjení méně vodivých vrstev vzorku, jako u detektorů sekundárních elektronů.
Adaptation of scanning electron microscope to environmental scanning electron microscope
Neděla, Vilém
This paper deals with adaptation of the scanning electron microscope (SEM) to the environmental scanning electron microscope (ESEM). It focuses especially to the construction and assembly of the differential pumping chamber together with the detector board of the differential pumping chamber and it comments reasons of necessity of the assembly of these parts in the environmental scanning electron microscope.
Computer controlled SEM with Schottky cathode for imaging in slow and Auger electrons
Hrnčiřík, Petr ; Müllerová, Ilona
The ultrahighvacuum Scanning Electron Microscope has been built using the column of an old prototype (later produced as Tesla BS 350), some spare parts for BS 350 and new components, including computer controlled electronics. The whole vacuum system was extensively reconstructed, too. The Schottky cathode was introduced into the microscope instead of the original cold field emission gun. The advantage of this system includes a high current density, higher stability and lower vacuum demands at comparable performance as regards the resolution. Therefore it is possible to practice surface analysis with Auger electrons at a high resolution. The microscope was also adapted to the operation with slow and very slow electrons, again at high resolution, so that these two methods can be in situ compared.
The possibilities of using FFT for rating the quality of detected signal in ESEM
Přichystal, Vladimír
The main demand for processing of images from scanning electron microscope is acquirement of the best quality of raster image and description of attributes of micrographs and possibility of their comparison with other micrographs. Therefore software was compiled, which serves to numerical calculation of the Fast Fourier Transform (FFT) of micrographs, evaluation and development of their quality.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 77 záznamů.   začátekpředchozí68 - 77  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.