Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 5,507 záznamů.  začátekpředchozí5498 - 5507  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.29 vteřin. 

Byly sestrojeny hybridní elektrochromní prvky s různými elektrolyty a studovány jeho optické a elektrochemické vlastnosti
Krejza, O. ; Reiter, Jakub
Byly sestrojeny hybridní elektrochromní prvky s různými elektrolyty a studovány jeho optické a elektrochemické vlastnosti.

Analýza nízkomolekulárních proteinů metodou SDS-PAGE v ječmeni během sladování
Myslivcová, Pavla ; Svoboda, Zdeněk (oponent) ; Mikulíková, Renata (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá analýzou nízkomolekulárních proteinů v ječmeni během sladování metodou SDS-PAGE. Pozornost byla zaměřena na PR proteiny, konkrétně LTP proteiny a thioniny, které jsou zmiňovány v souvislosti s problematikou gushingu. Pro experiment byly použity vzorky ječmene, meziproduktů sladování a sladu odebíraných v 10 po sobě následujících dnech pro pokrytí celého procesu sladování. Celkem bylo analýze podrobeno 5 odběrů. Ze vzorků byly extrahovány proteiny, které pak byly separovány pomocí SDS-PAGE za použití Tris-tricinového pufrového systému. Ve výsledných gelech byly identifikovány proteinové linie LTP proteinů a thioninů. Pro posouzení vlivu sladování na tyto proteiny byly získány hodnoty relativní optické hustoty bandů vybraných proteinů. Byl sledován podobný charakter změny obsahu zmíněných nízkomolekulárních proteinů během sladování. To bylo následně potvrzeno nalezením statisticky významné pozitivní korelace mezi hodnotami relativní optické hustoty LTP proteinů a thioninů. Dále byla hledána souvislost mezi obsahem nízkomolekulárních proteinů a gushingovým potenciálem a mikrobiologickou kontaminací vzorků, která nebyla prokázána.

Tomografická rekonstrukce geometrie a profilu lomu preforem
Slánička, Jiří ; Peterka, Pavel ; Matějec, Vlastimil ; Kašík, Ivan ; Pospíšilová, Marie
V příspěvku je ukázána tomografická rekonstrukce profilu indexu lomu na preformě určené pro pláštěm čerpané vláknové lasery a zesilovače.

Další možnosti optického zesilování v pásmu 1310nm
Vojtěch, J. ; Karásek, Miroslav ; Radil, J.
Experimentálně byly vyšetřovány možnosti zesílení signálu 10GE v pásmu 1310nm pomocí polovodičových optických zesilovačů a rozprostřeným zesílením založeným na stimulovaném Ramanově jevu.

SMV-2016-23: Kyvety pro kosmický výzkum
Hrabina, Jan ; Holá, Miroslava ; Oulehla, Jindřich ; Pokorný, Pavel ; Lazar, Josef
Smluvní výzkum byl zaměřen na vývoj soustavy referenčních prvků pro frekvenční stabilizaci ultra kompaktních laserových zdrojů. Tyto optické reference jsou založeny na bázi absorpčních kyvet plněných čistými plyny a dovolují stabilizaci laserových zdrojů pomocí metod laserové spektroskopie.

Optická rotace a manipulace s nesférickými mikroobjekty
Arzola, Alejandro V. ; Chvátal, Lukáš ; Šerý, Mojmír ; Jákl, Petr ; Brzobohatý, Oto ; Šiler, Martin ; Zemánek, Pavel
Manipulace s mikroskopickými objekty světlem umožnily hlouběji pochopit interakce záření s hmotou a rovněž našly řadu jedinečných aplikací v mikrosvětě. Standardní optická pinzeta je patrně nejznámější příklad, který k zachycení mikroobjektů využívá silně fokusovaného laserového svazku. Využití prostorového fázového modulátoru světla k tvarování rozložení optické intenzity v chytacím svazku nabízí možnost optimalizovat silové působení s ohledem na velikost, tvar a počet částic.

Charakteristiky malt modifikovaných metakaolinem aplikovaných na historických objektech
Slížková, Zuzana
Vzorky dvou vápeno-metakaolinových omítek aplikovaných na historické objekty v ČR před několika lety byly laboratorně vyšetřeny s využitím optické a elektronové mikroskopie,EDS, XRD analýzy a rtuťové porozimetrie. Byly zjištěny také mechanické vlastnosti těchto malt. V příspěvku jsou uvedeny výsledky rozboru malt a doporučení pro zlepšení technologie přípravy těchto malt na stavbě.

Chalkogenidová skla systému Ge-In-S(Se) dotovaná Pr3+ ionty
Bílková, M. ; Frumarová, Božena ; Frumar, M. ; Vlček, M. ; Černošek, Z.
Byla studována skla systému Ge-In-S(Se) dotovaná Pr3+ ionty byly měřeny optické vlastnosti.

SMV-2012-05: Reliéfní struktury na principu diftraktivní optiky
Horáček, Miroslav ; Kolařík, Vladimír ; Matějka, Milan ; Urbánek, Michal ; Krátký, Stanislav ; Chlumská, Jana ; Král, Stanislav
Výzkum a vývoj v oblasti fyzikální realizace grafických a optických struktur na principu difraktivní optiky prostředky elektronové litografie v záznamovém materiálu neseném křemíkovou nebo skleněnou deskou. Výzkum zahrnuje analýzu grafického resp. optického motivu, výzkum a aplikaci reliéfních struktur realizujících požadované grafické resp. optické vlastnosti, výzkum a modelování možností fyzikální realizace reliéfních struktur, vypracování a analýzu technologie realizace reliéfní struktury s ohledem na limity současných vědeckých přístrojů, ověření teoretických úvah expozicí vzorku reliéfní struktury.

Plazmochemická depozice tenkých fluorocarbonových vrstev
Veverková, Radka ; Přikryl, Radek (oponent) ; Krčma, František (vedoucí práce)
Depozice tenkých vrstev je jednou z nejrozšířenějších aplikací pro změnu povrchových vlastností nejrůznějších materiálů. Tato diplomová práce se zabývá diagnostikou tenkých vrstev, které vznikly technikou PECVD. Pro depozici tenkých vrstev bylo využito kapacitně vázaného RF plazmatu za sníženého tlaku. Jako prekurzor byl použit tetrafluormetan (CF4) s příměsí vodíku (H2). Cílem práce bylo nalézt optimální podmínky pro vytvoření hydrofobní tenké vrstvy na povrchu polymeru NOA. Depozice byly prováděny v kontinuálním i pulzním režimu výboje s různou střídou. Depoziční proces byl monitorován pomocí optické emisní spektroskopie a in situ hmotnostní spektrometrie. Vytvořené tenké vrstvy byly charakterizovány pomocí měření kontaktního úhlu, rentgenové fotoelektronové spektroskopie, infračervené spektroskopie a optické elipsometrie. Byly sledovány vlivy použitého režimu výboje a výkonu a složení směsí reakčních plynů. Kontaktní úhel byl nejvyšší pro depozice v kontinuálním režimu. Pomocí hmotnostní spektrometrie a optické emisní spektrokopie byly sledovány rozkladné procesy uvnitř reaktoru. Rentgenová fotoelektronová spektroskopie poskytla údaje o chemických vazbách zastoupených na povrchu vzorku. Byly to především skupiny C – C/C – H, C – O, O = C – O pro vzorek bez vrstvy. Po depozici se objevily také další vazby a to C – CF, CF2, CF3. Elipsometricky byla zjištěna tloušťka tenké vrstvy okolo 8,2 nm. Zjištěné výsledky lze použít jako základ pro další, rozšířené studium problematiky plazmochemicky připravených tenkých fluorokarbonových vrstev a jejich vlastností.