|
|
In-situ electron microscopy
Bukvišová, Kristýna ; Wandrol, Petr (referee) ; Kolíbal, Miroslav (advisor)
Cílem diplomové práce je popsat oxidaci nanotrubic sulfidu wolframičitého za zvýšených teplot v přítomnosti vodní páry. Na jejich povrchu se nejprve vytvoří nanočástice oxidu wolframu, ze kterých potom vyrůstají nanodráty. Na základě in-situ experimentů v rastrovacím elektronovém mikroskopu je navržen mechanismus reakce a ten je zjednodušeně popsán analyticky. Ukazuje se, že elektronový svazek má zásadní vliv na reakci.
|
|
|
In-situ electron microscopy
Bukvišová, Kristýna ; Wandrol, Petr (referee) ; Kolíbal, Miroslav (advisor)
Cílem diplomové práce je popsat oxidaci nanotrubic sulfidu wolframičitého za zvýšených teplot v přítomnosti vodní páry. Na jejich povrchu se nejprve vytvoří nanočástice oxidu wolframu, ze kterých potom vyrůstají nanodráty. Na základě in-situ experimentů v rastrovacím elektronovém mikroskopu je navržen mechanismus reakce a ten je zjednodušeně popsán analyticky. Ukazuje se, že elektronový svazek má zásadní vliv na reakci.
|
|
| |
|
| |
|
|
Zobrazování nevodivých vzorků pomocí nízkoenergiových zpětně odražených elektronů v SEM
Wandrol, Petr
Article deals with the problems of imaging of non-conductive samples in the SEM that are caused mainly by charging. Use of the low primary beam energy and the observation by means of backscattered electrons are proposed as methods of suppression of charging artifacts in the image. Newly developed detector of backscattered electrons for the low energy SEM is described and images of uncoated non-conductive samples without charging artifacts taken by this detector are presented.
|
|
|
Detekční strategie pro sběr sekundárních elektronů v REM
Konvalina, Ivo ; Hovorka, Miloš ; Wandrol, Petr ; Mika, Filip ; Müllerová, Ilona
In the scanning electron microscope (SEM), the secondary electrons (SE) are usually detected by the Everhart-Thornley (ET) type detector, using a weak electrostatic field to attract low energy SE let us call it the standard system. This principle is employed for more than forty years. Modern SEMs achieve their improved image resolution by allowing the strong magnetic field of the objective lens (OL) to penetrate to the specimen surface (so called immersion system). Two SE detectors are usually used in this case: one is below the OL just as the standard ET detector (lower detector) and the other is positioned above the OL (upper detector). The final contrast of SE images for the same specimen varies with the energy and angular sensitivity of the detectors, connected with specific distributions of the electrostatic and magnetic fields in the specimen region.
|
|
| |
|
| |
|
| |
|
|
Výpočty nízkonapěťového BSE detektoru
Wandrol, Petr ; Autrata, Rudolf
The scintillator-photomultiplier detection system installed under the pole piece represents the most efficient BSE detector in SEM. However, the initial energy of the BSEs of 0.5-3 keV in the LV SEM is the energy, on which the light yield of scintillators decreases. Appropriate acceleration of BSEs and declination of SEs is necessary for the best BSE image at low acceleration voltage. Electrostatic field affecting signal electron trajectories was simulated in the software package Simion 3D.
|
guest ::
RSS feed.