Original title: Detection Strategies for Collection of Secondary Electrons in SEM
Translated title: Detekční strategie pro sběr sekundárních elektronů v REM
Authors: Konvalina, Ivo ; Hovorka, Miloš ; Wandrol, Petr ; Mika, Filip ; Müllerová, Ilona
Document type: Papers
Conference/Event: Multinational Congress on Microscopy /8./, Prague (CZ), 2007-06-17 / 2007-06-21
Year: 2007
Language: eng
Abstract: [eng] [cze]
In the scanning electron microscope (SEM), the secondary electrons (SE) are usually detected by the Everhart-Thornley (ET) type detector, using a weak electrostatic field to attract low energy SE let us call it the standard system. This principle is employed for more than forty years. Modern SEMs achieve their improved image resolution by allowing the strong magnetic field of the objective lens (OL) to penetrate to the specimen surface (so called immersion system). Two SE detectors are usually used in this case: one is below the OL just as the standard ET detector (lower detector) and the other is positioned above the OL (upper detector). The final contrast of SE images for the same specimen varies with the energy and angular sensitivity of the detectors, connected with specific distributions of the electrostatic and magnetic fields in the specimen region. Sekundární elektrony (SE) jsou v rastrovacím elektronovém mikroskopu (REM) obvykle detekovány pomocí Everhartova-Thornleyho (ET) detektoru, jehož slabé elektrostatické pole přitahuje nízko energiové SE; takový systém nazveme standardní. Tento systém se používá více než 40 let. Moderní REM dosahují zlepšení obrazového rozlišení vlivem silného magnetického pole objektivové čočky, které proniká do oblasti vzorku (tzv. imerzní systém). V tomto případě se obvykle používají dva SE detektory: jeden umístěný pod objektivem (spodní detektor) a druhý se nachází uvnitř objektivu (horní detektor). Výsledný kontrast obrazu sekundárních elektronů stejného vzorku se mění s energiovou a úhlovou citlivostí detektoru, v závislosti na rozložení elektrostatického a magnetického pole v okolí vzorku. Studium sběrové účinnosti jednotlivých detektorů je nezbytné pro správnou interpretaci pozorovaného kontrastu.
Keywords: detection; secondary electrons; SEM
Project no.: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), GA102/05/2327 (CEP)
Funding provider: GA ČR
Host item entry: Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy, ISBN 978-80-239-9397-4

Institution: Institute of Scientific Instruments AS ČR (web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences.
Original record: http://hdl.handle.net/11104/0152593

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-37952


The record appears in these collections:
Research > Institutes ASCR > Institute of Scientific Instruments
Conference materials > Papers