|
|
Stanovení nejistoty měření nano-CMM
Brlica, Pavel ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Tématem této diplomové práce je problematika stanovení nejistoty měření nano-CMM, konkrétně přístroje SIOS NMM-1. Teoretická část práce obsahuje definici základních pojmů z oblasti nejistoty měření, popis přístupů ke stanovení nejistoty měření CMM a rozdíly mezi klasickými CMM a nano-CMM. Pro výpočet nejistoty měření nano-CMM jsou vybrány a upraveny dvě metody – substituční a simulační metoda Monte Carlo. Ty jsou aplikovány v praktické části pro výpočet nejistoty měření přístroje SIOS NMM-1. Součástí praktické části je provedení měření na přístroji v laboratoři na Českém metrologickém institutu v Brně. Výstupem práce je tedy stanovení nejistoty měření přístroje SIOS NMM-1.
|
|
|
Návrh vhodného etalonu délky pro nano-CT měřicí přístroj
Kožiol, Martin ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá návrhem tří etalonů délky, které poslouží pro zajištění metrologické návaznosti mezi přístroji Rigaku nano3DX, SIOS NMM-1, Zeiss UPMC Carat 850 a dalšími přístroji umístěnými na ÚVSSR VUT a CEITEC Brno. První část je zaměřena na teoretické seznámení se s pojmy úzce souvisejícími s problematikou zajišťování metrologické návaznosti. Kromě toho se tato část zabývá výpočetní tomografií a popisem jednotlivých přístrojů. V druhé části jsou řešeny návrhy, postup výroby a odzkoušení jednotlivých etalonů. Poslední část je věnována popisu zajištění kalibrace nejmenšího etalonu, tzv. Nano etalonu a výpočtu nejistoty měření jeho kalibrované délky. Ke konci práce jsou výstupy těchto činností zhodnoceny.
|
|
|
Návrh vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie na pracovištích ČMI Brno a CEITEC Brno
Češek, Jakub ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá návrhem vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie. Tento etalon délky bude sloužit pro metrologickou návaznost přístroje Rigaku nano3DX umístěným na pracovišti CEITEC Brno a přístroje SIOS NMM-1, který je umístěn na pracovišti ČMI Brno. První část je zaměřena na popis těchto měřicích přístrojů, analýze požadavků na jejich metrologickou návaznost a požadavkům na hmotný délkový etalon. Druhá část je věnována konkrétním možnostem návrhu etalonu, 3D tisku prototypu etalonu a ověření jeho rozměrové kompatibility. V závěru práce je provedeno vyhodnocení a volba vhodného návrhu etalonu.
|
|
|
Návrh vhodného etalonu délky pro nano-CT měřicí přístroj
Kožiol, Martin ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá návrhem tří etalonů délky, které poslouží pro zajištění metrologické návaznosti mezi přístroji Rigaku nano3DX, SIOS NMM-1, Zeiss UPMC Carat 850 a dalšími přístroji umístěnými na ÚVSSR VUT a CEITEC Brno. První část je zaměřena na teoretické seznámení se s pojmy úzce souvisejícími s problematikou zajišťování metrologické návaznosti. Kromě toho se tato část zabývá výpočetní tomografií a popisem jednotlivých přístrojů. V druhé části jsou řešeny návrhy, postup výroby a odzkoušení jednotlivých etalonů. Poslední část je věnována popisu zajištění kalibrace nejmenšího etalonu, tzv. Nano etalonu a výpočtu nejistoty měření jeho kalibrované délky. Ke konci práce jsou výstupy těchto činností zhodnoceny.
|
|
|
Návrh vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie na pracovištích ČMI Brno a CEITEC Brno
Češek, Jakub ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá návrhem vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie. Tento etalon délky bude sloužit pro metrologickou návaznost přístroje Rigaku nano3DX umístěným na pracovišti CEITEC Brno a přístroje SIOS NMM-1, který je umístěn na pracovišti ČMI Brno. První část je zaměřena na popis těchto měřicích přístrojů, analýze požadavků na jejich metrologickou návaznost a požadavkům na hmotný délkový etalon. Druhá část je věnována konkrétním možnostem návrhu etalonu, 3D tisku prototypu etalonu a ověření jeho rozměrové kompatibility. V závěru práce je provedeno vyhodnocení a volba vhodného návrhu etalonu.
|
|
|
Stanovení nejistoty měření nano-CMM
Brlica, Pavel ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Tématem této diplomové práce je problematika stanovení nejistoty měření nano-CMM, konkrétně přístroje SIOS NMM-1. Teoretická část práce obsahuje definici základních pojmů z oblasti nejistoty měření, popis přístupů ke stanovení nejistoty měření CMM a rozdíly mezi klasickými CMM a nano-CMM. Pro výpočet nejistoty měření nano-CMM jsou vybrány a upraveny dvě metody – substituční a simulační metoda Monte Carlo. Ty jsou aplikovány v praktické části pro výpočet nejistoty měření přístroje SIOS NMM-1. Součástí praktické části je provedení měření na přístroji v laboratoři na Českém metrologickém institutu v Brně. Výstupem práce je tedy stanovení nejistoty měření přístroje SIOS NMM-1.
|
host ::
RSS.