Název: Scanning Very Low Energy Electron Microscopy
Autoři: Müllerová, Ilona ; Hovorka, Miloš ; Mikmeková, Šárka ; Pokorná, Zuzana ; Mikmeková, Eliška ; Frank, Luděk
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: NANOCON 2011. International Conference /3./, Brno (CZ), 2011-09-21 / 2011-09-23
Rok: 2011
Jazyk: eng
Abstrakt: Recent developments in applications of the scanning very low energy electron microscopy in selected branches of materials science are reviewed. The examples include visualization of grains in conductive polycrystals including ultrafine grained metals, identification of the local crystal orientation upon reflectance of very slow electrons, transmission mode with ultrathin free-standing films including graphene, acquisition of a quantitative dopant contrast in semiconductors, and examination of thin surface coverages.
Klíčová slova: dopant contrast; grain contrast; low energy electrons; scanning electron microscopy; thin films; transmitted electrons
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), GAP108/11/2270 (CEP), IAA100650902 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA ČR, GA AV ČR
Zdrojový dokument: NANOCON 2011. 3rd International Conference, ISBN 978-80-87294-27-7

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0203060

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-79576


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference