Název: Aplikace Kelvinovy silové mikroskopie na dvourozměrných strukturách
Překlad názvu: Application of Kelvin Probe Force Microscopy on Two-Dimensional Structures
Autoři: Švarc, Vojtěch ; Kunc,, Jan (oponent) ; Kolařík, Vladimír (oponent) ; Bartošík, Miroslav (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Disertační práce
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: grafen; Hall bar; Kelvinova silová mikroskopie; KPFM; mikroskopie atomárních sil; polem řízený tranzistor; povrchová vodivost.; povrchový potenciál; Atomic Force Microscopy; Field Effect Transistor; Graphene; Hall Bar; Kelvin Probe Force Microscopy; KPFM; Surface Conductivity.; Surface Potential

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: https://hdl.handle.net/11012/249176

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-620413


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Disertační práce
 Záznam vytvořen dne 2024-06-30, naposledy upraven 2024-07-21.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet