Název: Vliv pracovních podmínek na velikost signálu získaného pomocí LVSTD detektoru
Překlad názvu: Influence of working conditions on the signal level detected by LVSTD detector
Autoři: Tylich, Ondřej ; Zimáková, Jana (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2014
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Bakalářská práce seznamuje s činností nízkovakuového elektronového rastrovacího mikroskopu a popisuje jeho jednotlivé součásti. Vysvětluje rozdíl mezi nízkovakuovým a vysokovakuovým rastrovacím elektronovým mikroskopem. Obsahuje informace o vzniku signálů a detekci sekundárních elektronů pomocí scintilačního detektoru. Zjednodušeně popisuje výpočet poměru signál šum a metodu získávání hodnoty velikosti signálu. Práce se zaměřuje na zkoumání vlivu pracovních podmínek na velikost signálu získaného pomocí Low Vacuum Secondary Electron TESCAN Detectoru (LVSTD) a na měření poměru signál šum. Cílem práce je zjistit stabilitu a vliv pracovních podmínek na LVSTD. This bachelor project includes information about function of low vacuum scanning electron microscope and describes it’s parts. It explains the difference between low vacuum and high vacuum scannig electron microscope. Contains informations about creation and detection of secondary electrons using scintillation detectors. It describes the calculation of signal to noise ratio and the method for obtaining the values of signal. Project is focused to determine the value of signal with a change in working conditions obtained by using Low Vacuum Secondary Electron Detector TESCAN (LVSTD). The aim is to determine the stability of the effect of working conditions on LVSTD.
Klíčová slova: nízkovakuový rastrovací elektronový mikroskop; nízkovakuový Tescan detektor sekundárních elektronů; poměr signál - šum; Rastrovací elektronový mikroskop; scintilační detektor; sekundární elektrony; velikost signálu.; detector; enviromental scanning electron microscope; environmental.; Low Vacuum Secondary Electron TESCAN Detectoru; noise; Scanning electron microscope; scintillation detector; secondary electrons; signal

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/34141

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-607842


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce