Název: Využití biomateriálů pro optoelektronické aplikace v polovodičové technice
Překlad názvu: Use of biomaterials for optoelectronic applications in semiconductor technology
Autoři: Čuboň, Tomáš ; Salyk, Ota (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2015
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická
Abstrakt: [cze] [eng]
Tato práce se zabývá měřením optických vlastností tenkých vrstev biomateriálů, které by mohly najít potenciální využití v optoelektronice a polovodičové technice. Jako zástupce biomateriálů, za účelem jejich studia, byly vybrány DNA a BSA. Teoretická část práce měla za cíl popsat způsoby příprav tenkých vrstev a dále částečně charakterizovat základní pojmy a vlastnosti některých biomateriálů. V praktické části byly popsány přípravy tenkých vrstev metodou rotačního nanášení a následného měření jejich optických vlastností. Vybrané materiály byly studovány optickou mikroskopií, UV-VIS spektrofotometrií a spektroskopickou elipsometrií. Tloušťky nanesených vrstev se měřily mechanickou profilometrií. V posledním bloku této práce byl kladen důraz na diskuzi a vyhodnocení získaných výsledků. The bachelor´s thesis is aimed to measurement optical properties of thin layer films of biomaterials which could be used in optoelectronics and semiconductor technology. DNA and BSA were chosen in order to represent such extensive group of biomaterials. The theoretical part describes the way of preparation of thin layer. It also provides some information about basic phenomena and biomaterials. The practical part is focused on the description of preparation of thin layer film using spin-coating method. The chosen materials were studied by optical microscopy, UV-VIS spectrophotometry and spectroscopic ellipsometry. The thickness of prepared samples was measured by mechanic profilometry. In the last section of the bachelor´s thesis, there is discussion and evaluation of results.
Klíčová slova: BSA.; DNA; optická mikroskopie; spektroskopická elipsometrie; Tenké vrstvy; UV-VIS spektrofotometrie; BSA.; DNA; optical microscopy; spectroscopic ellipsometry; Thin layer films; UV-VIS spectrophotometry

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/38699

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-596664


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce