Original title: Porovnání mikroskopických diagnostických metod
Translated title: Comparison of microscopic diagnostic methods
Authors: Veselý, Jakub ; Tihlaříková, Eva (referee) ; Čudek, Pavel (advisor)
Document type: Bachelor's theses
Year: 2012
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [cze] [eng]

Keywords: atomic force microscopy; backscattered electron; contact mode; non-contact mode.; primary elektron; Scanning electron microscopy; scanning probe microscopy; secundary elektron; tip; transmission electron microscopy; bezkontaktní režim.; hrot; kontaktní režim; mikroskopie atomárních sil; mikroskopie rastrující sondou; primární elektrony; Rastrovací elektronová mikroskopie; sekundární elektrony; transmisní elektronová mikroskopie; zpětně odražené elektrony

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/72310

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-581634


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Bachelor's theses
 Record created 2024-04-02, last modified 2024-04-03


No fulltext
  • Export as DC, NUŠL, RIS
  • Share