Original title: Studium disperzních závislostí indexu lomu pomocí interferenční mikroskopie
Translated title: Study of refractive index dispersion dependences with using of interference microscopy
Authors: Schmiedová, Veronika ; Veselý, Michal (referee) ; Zmeškal, Oldřich (advisor)
Document type: Master’s theses
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická
Abstract: [cze] [eng]
Diplomová práce je zaměřena na studium optických vlastností tenkých transparentních vrstev organických materiálů (PPV, P3HT, TiO2, DPP), především na stanovení disperzních závislostí indexu lomu připravených vrstev. V teoretické části jsou popsány principy nanášení tenkých vrstev analyzovaných materiálů a jejich vlastnosti. Jsou zde také popsány metody měření optických vlastností (optická a interferenční mikroskopie, elipsometrie). Pro stanovení indexu lomu byl použit interferenční mikroskop v kombinaci s digitálním fotoaparátem. Ke stanovení parametrů byla využita obrazová analýza dat (pomocí programu HarFA). Byly analyzovány snímky tenkých vrstev zhotovené jak ze strany kovového kontaktu, tak ze strany skla. V závěru jsou popsány výsledky indexů lomu tenkých vrstev získaných z naměřených hodnot. The master´s thesis deals with the study of optical properties of thin transparent layers on the organic materials (PPV, P3HT, TiO2, DPP) and especially with the determination of dispersion dependences of refractive index of prepared thin layers. In the theoretical part there are described principles of deposition thin layers of the analyzed materials and their properties. In addition, there are also described methods of optical properties measurements (optical and interference microscopy and ellipsometry). The combination of interference microscope with digital camera was used for determination of refractive index. The image analysis was used for the determination of parameters (with help of the software HarFA). The images of thin layers surfaces were analyzed from the side of the metal contact as well as from the side of glass. In conclusion, there are presented results of the refractive index of the thin layers obtained from the measured values.
Keywords: ellipsometry; image analysis; interference microscopy; refractive index; Thin layers; elipsometrie; index lomu; interferenční mikroskopie; obrazová analýza; Tenké vrstvy

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/8068

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-579232


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Master’s theses