Original title: Webová služba pro analýzu výsledků měření polovodičových součástek
Translated title: Web Service for Analysis of Measurement Results of Semiconductor Circuit Elements
Authors: Střálka, Jan ; Peringer, Petr (referee) ; Kočí, Radek (advisor)
Document type: Bachelor's theses
Year: 2013
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií
Abstract: [cze] [eng]
Cílem této bakalářské práce je navrhnout a implementovat softwarový systém pro zvýšení výstupní kvality distribuovaných čipů pomocí vyřazování potenciálně vadných čipů. Projekt je zpracován pro firmu ON Semiconductor, výrobce polovodičů v Rožnově pod Radhoštěm. Software je psaný v Javě a architektura je založena na modulech s algoritmy, které se aplikují na mapy výsledků měření polovodičových součástek (wafer mapy). Zpracovávání běží na aplikačním serveru Tomcat, aplikace je řízena přes rozhraní webové služby. The aim of the bachelor thesis is to design and implement software system for increase the output quality of the distributed chips by phasing out potentially defective chips. This project is designed for ON Semiconductor, manufacturer of semiconductors in Rožnov pod Radhoštěm. The software is written in Java and the architecture is based on the modules with algorithms that are applied to measurements map of semiconductor devices (wafer maps). The system runs on Tomcat application server, and the application is managed via web service interface.
Keywords: chip defectivity; Java; semiconductor; web service; defektivita čipů; Java; polovodiče; web service

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/52880

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-577691


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Bachelor's theses