Original title:
Měření dynamických vlastností bipolárních tranzistorů
Translated title:
Basic measurement of dynamic properties of bipolar transistors
Authors:
Repčík, Juraj ; Šteffan, Pavel (referee) ; Dřínovský, Jiří (advisor) Document type: Bachelor's theses
Year:
2015
Language:
cze Publisher:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií Abstract:
[cze][eng]
Cieľom bakalárskej práce je rozobrať teoretický základ merania bipolárnych tranzistorov. V prvom rade statické vlastnosti BJT, nastavenie jednosmerných napätí a prúdov v elektrickom obvode (pracovný bod). Ďalej rozoberá meranie vybraných dynamických vlastností zosilňovača s bipolárnym tranzistorom. Teoretické poznatky sú prezentované na praktickom zapojení a laboratórnom meraní týchto vlastností s pripojenými laboratórnymi meracími prístrojmi. Meranie je automatizované pomocou počítača s vývojovým prostredím LabVIEW. Sú vyvinuté užívateľské programy na zmeranie V-A charakteristík bipolárneho tranzistora a meranie dynamických vlastností zosilňovača. Práca poukazuje na výhodný spôsob vývoja programového vybavenia pre automatizovanie merania pomocou grafického programovania v LabVIEW.
The aim of this bachelor thesis is to analyze theoretical basis of measurement bipolar transistors. First, this project focuses on the static parameters of a bipolar transistor, setting DC voltages and currents in an electric circuit (Q-point, operating point). Second it deals with measurement of selected dynamic properties of amplifier with bipolar transistor. Theoretical knowledge is presented on the practical circuit by a laboratory measurement of the selected properties. The measurement is automated using a computer with LabVIEW software. User programs are developed for measuring the V-A characteristics of a bipolar transistor and for measuring selected dynamic properties of the amplifier. The thesis points out a convenient approach in development of new software for automated measurement using graphical programming in LabVIEW.
Keywords:
bipolar; dynamic properties; LabVIEW; operating point; transistor; bipolárny; dynamické vlastnosti; LabVIEW; pracovný bod; tranzistor
Institution: Brno University of Technology
(web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library. Original record: http://hdl.handle.net/11012/40816