Název: Výzkum pokročilých mikroskopických a litografických technik AFM
Překlad názvu: Research of advanced microscopic and lithographic AFM techniques
Autoři: Vaněk, Kamil ; Černek, Ondrej (oponent) ; Nováček, Zdeněk (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2022
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: duté sondy; environmentální komora; FluidFM; fluidní silový mikroskopie; Mikroskopie atomárních sil; NTegra Prima; vakuum; Atomic force microscopy; environmental chamber; FluidFM; fluidic force microscopy; hollow probes; NTegra Prima; vacuum

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/206304

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-548690


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce
 Záznam vytvořen dne 2024-04-02, naposledy upraven 2024-04-03.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet