Název:
Studium tenkých vrstev molekulárních nanomagnetů připravených metodou Langmuira-Blodgettové a návrh úpravy Langmuirovy vaničky
Překlad názvu:
Study of thin films of molecular nano-magnets prepared by Langmuir-Blodgett technique and drafting of an adapted Langmuir trough
Autoři:
Vaverka, Jan ; Neugebauer, Petr (oponent) ; Novák, Jiří (vedoucí práce) Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok:
2017
Jazyk:
cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze][eng]
Diplomová práce se zabývá studiem depozice molekulárních nanomagnetů metodou Langmuira-Blodgettové. Práce popisuje vliv depozičních parametrů na strukturu nanášené molekulární vrstvy doubledecker-ftalocyaninu dysprosia. Připravené molekulární filmy jsou analyzovány prostřednictvím rentgenové reflektivity a mikroskopie atomárních sil. Dále je popsán návrh konstrukčních změn aparatury KSV Minimicro, sloužící k depozici metodou Langmuira-Blodgettové. Cílem návrhu je Langmuirova vanička s většími rozměry oproti současnému stavu, jenž by umožňovala nanášení řádově stovek molekulárních vrstev.
This diploma thesis focuses on studies of deposition of molecular nanomagnets doubledecker dysporsium phtalocyanine via Langmuir-Blodgett method. The thesis describes the influence of deposition parameters on structure of deposited molecular layer of doubledecker dysporsium phtalocyanine. The prepared molecular layers are analysed by X-ray reflectivity and Atomic force microscopy. Moreover, the proposal of structural changes of KSV Minimicro instrument, used for Langmuir Blodgett deposition, is described. The intended result is Langmuir trough of bigger dimensions than the recent one, which would enable to distribute molecular layers numbering about magnitude of hundreds.
Klíčová slova:
depoziční aparatura; doubledecker-ftalocyaninu dysprosia; Metoda Langmuira-Blodgettové; mikroskopie atomárních sil; morfologie rentgenová reflektivita; tenké vrstvy; atomic force microscopy; deposition equipment; doubledecker dysprosium phtalocyanine; Langmuir-Blodgett method; morphology; thin layers; x-ray reflectivity
Instituce: Vysoké učení technické v Brně
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/67979