Název: Vliv vrstvy obsypového materiálu sondy na citlivost měření metodou EIS
Překlad názvu: Influence different material layer to the sensitivity measurements of the EIS probe
Autoři: Slezák, Jakub ; Novotná, Jitka (oponent) ; Pařílková, Jana (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2013
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta stavební
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: citlivost; elektrická impedanční spektrometrie.; měření; sonda; Vrstva obsypového materiálu; electrical impedance spectrometry.; Layer of backfill material; measurements; probe; sensitivity

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/28973

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-545568


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce
 Záznam vytvořen dne 2024-04-02, naposledy upraven 2024-04-03.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet