host ::
přihlásit
Digitální repozitář
Hledej
Nový záznam
Nápověda
O repozitáři
Hlavní stránka
>
Vysokoškolské kvalifikační práce
>
Bakalářské práce
> Vliv pracovních podmínek na velikost signálu získaného pomocí BSE detektoru
Informace
Soubory
Název:
Vliv pracovních podmínek na velikost signálu získaného pomocí BSE detektoru
Překlad názvu:
Influence of working conditions on the signal level detected by BSE detector
Autoři:
Bednář, Eduard
;
Zimáková, Jana
(oponent) ;
Čudek, Pavel
(vedoucí práce)
Typ dokumentu:
Bakalářské práce
Rok:
2014
Jazyk:
cze
Nakladatel:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt:
[cze]
[eng]
Tato práce se zabývá zhodnocením kvality signálu zpětně odražených elektronů detekovaných scintilačním detektorem v závislosti na nastavených pracovních podmínkách v nízkovakuovém rastrovacím elektronovém mikroskopu. V teoretické části práce je popsána problematika enviromentální rastrovací elektronové mikroskopie, princip vzniku signálů a detekce zpětně odražených elektronů. Cílem experimentální části práce je měření vlastností scintilačního detektoru zpětně odražených elektronů. Sérií experimentů je vyhodnocován vliv pracovních podmínek na stabilitu a funkci detektoru zpětně odražených elektronů.
This thesis deals with the evaluation of the quality of the signal level of backscattered electrons detected by the scintillation backscattered electron detector depending on the working conditions in low vacuum scanning electron microscope. The theoretical part describes the issue of environmental scanning electron microscopy, the principle of generation the signal and detection of backscattered electrons. The experimental part of the thesis is to measure the properties of the scintillation detector of backscattered electrons. A series of experiments is evaluated the influence of working conditions on the stability and function of the detector of backscattered electron.
Klíčová slova:
Everhart – Thornley scintilační detektor
;
nízkovakuový rastrovací elektronový mikroskop
;
osciloskopická metoda vyhodnocení signálu
;
poměr signál – šum
;
Rastrovací elektronový mikroskop
;
scintilační detektor zpětně odražených elektronů
;
vyhodnocování signálu ze stupňů šedi.
;
zpětně odražené elektrony
;
backscattered electrons
;
Everhart – Thornley scintillation detector
;
low vacuum scanning electron microscope
;
oscilloscope signal evaluation method
;
Scanning electron microscope
;
scintillation detector of backscattered electron
;
signal evaluation of grayscale
;
signal – noise ratio
Instituce:
Vysoké učení technické v Brně (
web
)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam:
http://hdl.handle.net/11012/34140
Trvalý odkaz NUŠL:
http://www.nusl.cz/ntk/nusl-544802
Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství
>
Veřejné vysoké školy
>
Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce
>
Bakalářské práce
Záznam vytvořen dne 2024-04-02, naposledy upraven 2024-04-03.
Podobné záznamy
Není přiložen dokument
Exportovat ve formátu
DC
,
NUŠL
,
RIS
Sdílet