Název:
Použití (chir)optických analytických metod při charakterizaci neracemických helikálně chirálních aromátů
Překlad názvu:
Application of (chir)optical analytical methods in the characterization of nonracemic helically chiral aromatics
Autoři:
Vilím, Vojtěch ; Hraníček, Jakub (vedoucí práce) ; Dian, Juraj (oponent) Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok:
2023
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Tato magisterská práce se věnuje přípravě a charakterizaci tenkých vrstev pro organickou elektroniku z dvousložkového systému skládajícího se z achirální malé vodivé molekuly (TIPS-pentacen) a chirálních helicenů lišících se zejména elektronovou hustotou jejich skeletu ([7]helicen a jeho deriváty). Použití organické elektroniky je inovativní přístup ve výrobě elektronických součástek. Vnesení chirality do achirální organické elektroniky přináší nové vlastnosti, které otevírají možnosti uplatnění například v optické spintronice, optickém kvantovém zpracovávání informací. Klíčová slova: tenká vrstva, heliceny, cirkulární dichroismus, organická elektronikaThis master thesis is focused on preparation and characterization of thin layers for organic electronics forming a binary system, composed of achiral small conductive molecules (TIPS-pentacen) and chiral helicenes with various electronic density of their aromatic scaffold. Using organic electronics is innovative approach to manufacture electronic devices and compensate disadvantages of inorganic materials-based electronics. Induction of chirality into achiral organic electronics brings new possibilities for application in optical spintronics, optical quantum information processing and many others. Key words: thin layer, helicenes, circular dichroism, organic electronics
Klíčová slova:
analytická rezoluce racemátů; analýza a charakterizace tenkých vrstev; ECD; fluorescenční; helikálně chirální aromáty; HPLC na chirálních kolonách; Ramanova a CPL spektrometrie; UV-Vis; analytical resolution of racemates; ECD; fluorescence; helically chiral aromatics; HPLC on chiral columns; Raman and CPL spectrometry; thin film analysis and characterization; UV-Vis