Original title:
Profilování vestavných aplikací
Translated title:
Profiling of Embedded Applications
Authors:
Koleček, František ; Mrázek, Vojtěch (referee) ; Strnadel, Josef (advisor) Document type: Master’s theses
Year:
2023
Language:
cze Publisher:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií Abstract:
[cze][eng]
Tato práce se zabývá profilováním vestavných aplikací. Práce je zaměřená především na platformu ARM Cortex-M. Teoretická část práce obsahuje vysvětlení základních principů a pojmů z oblasti profilování a vývoje vestavných aplikací. Dále se v ní lze dočíst o existujících profilovacích metodách a nástrojích s touto problematikou spojených. Pro praktickou část je cílem práce pomocí zvolených prostředků provést profilování různých parametrů a vyhodnotit výsledky. Rozhodl jsem se implementovat knihovnu s profilovacími nástroji umožňující měřit dobu provádění a využití zásobníku. Výsledky získané pomocí této knihovny jsou v práci analyzovány výpočtem nejistoty měření.
This thesis is about profiling of embedded applications. The thesis is focused primarily on the ARM Cortex-M platform. The theoretical part of this thesis contains explanation of basic principles and terms associated with profiling and development of embedded applications. The thesis also summarizes existing profiling methods and tools associated with this topic. The goal of the practical part of this thesis is to use the chosen means to profile various parameters and evaluate the results. I decided to implement a library containing profiling tools, which allow for execution time measurement and stack usage measurement. Results obtained using this library were analyzed by calculating the measurement uncertainty.
Keywords:
ARM Cortex-M; BCET; DWT; embedded applications; embedded systems; execution time; measurement uncertainty; Profiling; RTOS; WCET; ARM Cortex-M; BCET; doba provádění; DWT; nejistota měření; Profilování; RTOS; vestavné aplikace; vestavné systémy; WCET
Institution: Brno University of Technology
(web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library. Original record: http://hdl.handle.net/11012/210605