Název:
Lithographic thin–film structures based on Electrochromic materials: Case study by scanning probe microscopy
Autoři:
Misiurev, Denis Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk:
eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt:
The main object of this study will be based on producing and characterization of lithographic thin–film structures produced based electrochromic materials. Atomic force microscopy will be used as a main method of evaluation the morphology of lithographic structures. The optical properties of eslectrochromic materials will be analyze using scanning near–field optical microscopy by applying different electrical potential.
Klíčová slova:
AFM; electrochromic materials; SNOM; thin–films Zdrojový dokument: Proceedings I of the 28st Conference STUDENT EEICT 2022: General papers, ISBN 978-80-214-6029-4
Instituce: Vysoké učení technické v Brně
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/209375