Název: Low-Level Measurements
Autoři: Zdražil, Lukáš ; Roubal, Zdeněk
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: This paper deals with the measurement of low values of electrical voltages and currents from sources with high internal resistance. The measured values are close to the theoretical limits of achievable sensitivity, which are determined by the magnitude of the Johnson´s thermal noise. Non-thermal noises are also generated in the circuit. The most significant noise after Johnson´s thermal noise is flicker noise with a frequency dependence of 1/f. Choosing an accurate operational amplifier with low input bias and noise is just as important as choosing precise passive components with low noise.
Klíčová slova: low-level measurements, operational amplifiers, voltage noise, current noise
Zdrojový dokument: Proceedings II of the 28st Conference STUDENT EEICT 2022: Selected papers, ISBN 978-80-214-6030-0

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/208648

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-511917


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference