Název: Skener rastrovací sondové mikroskopie s vysokou rezonanční frekvencí
Překlad názvu: Scanning probe microscopy scanner with high resonant frequency
Autoři: Krupa, Matyáš ; Dostál, Zbyněk (oponent) ; Pavera, Michal (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2022
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]
Tato práce se zabývá návrhem konstrukce skeneru rastrovací sondové mikroskopie s vysokou rezonanční frekvencí. První část práce je zaměřena na teorii jako princip mikroskopie atomárních sil, charakteristiku funkce skeneru a jeho vlastností. V druhé částí je popsán postupný vývoj nového mikroskopu. Nejdříve jsou představeny mechanické simulace používané k určení vlastností skenerů. Dále se práce věnuje samotnému návrhu nejdříve pro osy x, y a následně i pro osu z. Na závěr je představen výsledný návrh trojosého skeneru s vyšší rezonanční frekvencí. The thesis deals with the design of the scanning probe microscopy scanner with a higher resonant frequency. The first part of the thesis is focused on theory as the principle of atomic force microscopy, function of the scanner and its properties. The second part describes the gradual development of a new microscope. The mechanical simulations used to determine the properties of scanners are introduced first. Furthermore, the thesis deals with the design for the x, y axis and then also for the z axis. In conclusion, the final design of a three-axis scanner with a higher resonant frequency is presented.
Klíčová slova: AFM; piezo skener; piezokeramika; SPM; AFM; piezo scanner; piezoceramics; SPM

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/205879

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-503453


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce