Název: Properties of Bi LMIS with ion clusters
Autoři: Radlička, Tomáš
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./, Skalský dvůr (CZ), 2010-05-31 / 2010-06-04
Rok: 2010
Jazyk: eng
Abstrakt: The ion beams used in SIMS are produced by liquid–metal ion sources (LMIS) which provide fine, optically bright ion beams even for low emission currents around 1 .mu.A or less. The typical energy of the primary beam varies from 10 to 40 keV. The properties of the LMIS are strongly limited by the effect of the Discrete Coulomb Interactions (DCI) near the source. The DCI increase the energy width (Boersh effect) and decrease the brightness of the source due to the trajectory displacement effect. Contrary to the Ga LMIS which contains mostly only Ga+ ions, in case of the Bi LMIS the ion beam consists of several ion types and clusters of ions with similar currents. Because each ion type has different charge and mass they will be accelerated to different velocities, which increase the number of interactions and decreases the quality of the source. The aim of this contribution is a simulation of the effect of the clusters on the source properties based on the MC simulation.
Klíčová slova: discrete coulomb interactions (DCI); liquid–metal ion sources (LMIS); SIMS
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), NMP4-SE-2008-200613 (CEP)
Poskytovatel projektu: EC 7FP
Zdrojový dokument: Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, ISBN 978-80-254-6842-5

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0190610

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-41930


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference