Název: Reduction Of Metal Artefacts In Ct Data With Submicron Resolution Using Dual-Target Ct
Autoři: Víteček, Jakub ; Šalplachta, Jiří
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: The article deals with the possibility of the metal artefact reduction in computed tomography (CT) data with submicron resolution using dual-target CT. The sample is scanned twice at different acquisition parameters, at two different energy spectra. Dual-energy data are then used for easier localisation and segmentation of metal areas and the final combination of low and high-density materials. The final images are compared with the projection-based metal artefact reduction (MAR) algorithm and the commercial program VGStudio MAX 3.1. The results show good functionality of the proposed method and potential for further development.
Klíčová slova: CT images artefacts; Dual-Target CT; Nanotomography; Reduction of metal artefacts; Submicron resolution; X-ray computed tomography
Zdrojový dokument: Proceedings of the 25st Conference STUDENT EEICT 2019, ISBN 978-80-214-5735-5

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/186701

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-414603


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference