Název: Orientation of Grains in the Al-Mg-Si-Mn Alloy by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Autoři: Müllerová, Ilona ; Matsuda, K. ; Horiba, K. ; Mikmeková, Šárka ; Frank, Luděk
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./, Brno (CZ), 2009-08-10 / 2009-08-14
Rok: 2009
Jazyk: eng
Abstrakt: Electron Backscatter Diffraction (EBSD) is a technique allowing the crystallographic infomiation to be obtained from samples in the scanning electron microscope (SEM). The main disadvantages of this method include the specimen tilt by 70°, requiring to operate at large working distances and hence with reduced lateral resolution, and a long acquisition time needed to obtain the full infomnation about grain orientations. However, the crystal orientation can be recognized upon energy dependence of the electron reflectance in the very low energy range. Information can be acquired at a high lateral resolution, high contrast and short acquisition time in a dedicated SEM equipped by the cathode lens.
Klíčová slova: Al-Mg-Si-Mn alloy; EBSD; grains orientation; SEM
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP)
Zdrojový dokument: Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09), ISBN 978-80-254-4535-8

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0179803

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-40969


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference