Název: Hloubkové profilování multivrstev metodou LEIS
Překlad názvu: Depth profiling of multilayers by LEIS
Autoři: Strapko, Tomáš ; Duda, Radek (oponent) ; Bábor, Petr (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2019
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [eng] [cze]

Klíčová slova: LEIS; Low Energy Ion Scattering; single-scattering model; TRBS; LEIS; model jednonásobního odrazu; Nízkoenergiový iontový rozptyl; TRBS

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/179131

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-402576


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2019-08-26, naposledy upraven 2022-09-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet