Název: Tracking Resistance Of Various Materials In Vacuum
Autoři: Šedivý, Matúš
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: Many vacuum instruments used in industry and scientific research apply high voltage components. Vacuum performs as an insulator with theoretically infinite breakdown voltage. Surface of dielectrics between two electrodes inside a vacuum chamber is the weakest link for a possible electrical breakdown (tracking). This paper focuses on examination of a vacuum pressure influence to the surface breakdown voltage of a various materials. Results were compared and led to determination of an appropriate materials for a design of internal connectors in electron microscopes produced by the company Thermo Fisher Scientific.
Klíčová slova: alumina; breakdown; dielectric; glass; high-voltage; Kapton; PEEK; PVDF; tracking
Zdrojový dokument: Proceedings of the 24th Conference STUDENT EEICT 2018, ISBN 978-80-214-5614-3

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/138300

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-393486


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference