Original title:
Závěrečná zpráva z projektu - Bezpečné mazání paměťových čipů pomocí elektromagnetického pulsu
Translated title:
Final report of the project - Secure erasing memory chips using electromagnetic pulse
Authors:
Fitl, Přemysl ; Vrňata, M. ; Fišer, L. ; Novotný, Michal ; Scholtz, V. ; Vlček, J. ; Tomeček, D. Document type: Research reports
Year:
2018
Language:
cze Abstract:
[cze][eng] Předmětem smluvního výzkumu byl teoretický rozbor a matematický model problematiky průniku elektromagnetického pulzu. Popis přípravy experimentu obsahující odpájení a odpouzdřování paměťových čipů, metodiky testování paměťových médií, stínění experimentu, stínění zkoumaného paměťového čipu, generování EMP, měření intenzity EMP. \nShrnutí výsledků provedeného experimentu.\nSouhrnná výzkumná zpráva byla předána zástupcům NUKIB dne 31.5.2018. \nZástupci NUKIB potvrdili převzetí zprávy. Oponentura výsledků projektu proběhla 27.6.2018 v budově NUKIB. Projekt byl splněn. Za vypracování této zprávy byla fakturována sjednaná částka.\n\n\nThe subject of this contractual research was the theoretical analysis and the mathematical model of the problem of electromagnetic pulse penetration and involvement of storage function of the memory chips. The report includes description of the experimental preparation memory chip, methodology of memory media testing, experiment shielding, software scanning of the memory chip, EMP generation, EMP intensity measurement. \nSummary of results of experiments of EMP influence on the memory media.\nA comprehensive research report was handed over to NUKIB representatives on 31 May 2018. NUKIB representatives confirmed receipt of the report. \nDefense of the project results took place on 27.6.2018 in the NUKIB building. Project goals were fulfilled. The agreed amount was invoiced for this report.\n\n
Keywords:
electromagnetic pulse; flash memory; memory erasing Project no.: 216/2017-NÚKIB-I/410 Funding provider: NÚKIB
Institution: Institute of Physics AS ČR
(web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences. Original record: http://hdl.handle.net/11104/0291642