Název:
SMV-2018-21: Výpočet optiky XPS zdroje
Překlad názvu:
SMV-2018-21: Calculation of electron optical properties of XPS source
Autoři:
Radlička, Tomáš Typ dokumentu: Výzkumné zprávy
Rok:
2018
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Výpočet a optimalizace elektronově optických vlastností trysky, která se používá v zdroji Roentgenovéo foto-emisního spektroskopu. Jednalo se o výpočet termoemise limitované prostorovým nábojem. Pro výpočet byly použity metody vyvinuté na ÚPT.Calculation and optimization of the electron optical properties of the electron gun, which is used in the source of X-ray photoemission spectroscope. For the calculation of the space-charge limitted emission was used method developed in the ISI.\n
Klíčová slova:
electron optics; space-charge; thermoemionic electron gun
Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0291422