Original title: CAD in Electron Optics
Translated title: CAD v elektronové optice
Authors: Lencová, Bohumila
Document type: Papers
Conference/Event: Multinational Congress on Microscopy /8./, Prague (CZ), 2007-06-17 / 2007-06-21
Year: 2007
Language: eng
Abstract: [eng] [cze]
Invited talk on 8th Multinational congress on microscopy in the session Electron optics and optical elements. It discusses the themes of reduced interest in papers from electron optics on microscopy conferences and the progress in computational programs (such as EOD from ISI AS CR), in particular in accurate electron ray tracing in electromagnetic fields and in user interfaces. Pozvaný referát na 8. Mezinárodní konferenci mikroskopie v sekci Elektronová optika a optické prvky. Diskutuje témata jako opadávající zájem o příspěvky z elektronové optiky na mikroskopických konferencích a pokrok ve výpočetních programech (například EOD z ÚPT AV ČR), zejména v přesném trasování elektronů v elektromagnetických polích a v uživatelských interfejsích.
Keywords: CAD; electron optics; user interfaces
Project no.: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), GA102/05/2325 (CEP), GA102/05/0886 (CEP)
Funding provider: GA ČR, GA ČR
Host item entry: Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy, ISBN 978-80-239-9397-4

Institution: Institute of Scientific Instruments AS ČR (web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences.
Original record: http://hdl.handle.net/11104/0152720

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-37971


The record appears in these collections:
Research > Institutes ASCR > Institute of Scientific Instruments
Conference materials > Papers