Original title: Decay Kinetics of Scintillation Crystals for SEM Electron Detectors
Translated title: Kinetika doznívání scintilačních krystalů pro detektory elektronů v SEM
Authors: Schauer, Petr
Document type: Papers
Conference/Event: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./, Skalský dvůr (CZ), 2006-05-22 / 2006-05-26
Year: 2006
Language: eng
Abstract: [eng] [cze]
A study of the decay kinetics of YAG:Ce single crystal scintillators for SEM is presented in this paper. The principal quantities of image quality in SEM are contrast, spatial resolution, and noise. However, to quantify the overall performance of an imaging system, the detective quantum efficiency (DQE) is a better tool as it includes both the modulation transfer function and the noise power spectrum. This means that for a detector to have high DQE, it should possess not only high efficiency and low noise, but also good kinetic properties. Utilizing of the cathodoluminescence decay results, a schematic kinetic model of radiative and nonradiative transitions in the YAG:Ce single crystals is presented. V této práci je presentováno studium kinetiky doznívání monokrystalických scintilátorů YAG:Ce pro SEM. Základní veličiny určující kvalitu obrazu v SEM jsou kontrast, prostorové rozlišení a šum. Nicméně pro vyčíslení celkové kvality zobrazovacího systému je lepší detekční kvantová účinnost (DQE), neboť zahrnuje jak funkci přenosu modulace tak spektrum šumu. Z toho vyplývá, že detektor, který má mít vysokou DQE, by měl mít nejen vysokou účinnost a nízký šum, ale také dobré kinetické vlastnosti. S využitím výsledů doznívání katodoluminiscence je presentován schematický kinetický model zářivých a nezářivých přechodů v monokrystalech YAG:Ce.
Keywords: afterglow; cathodoluminescence; decay time; electron microscope; kinetic model; scintillation detector; SEM; single crystal scintillator; STEM; YAG:Ce
Project no.: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), GA102/04/2144 (CEP)
Funding provider: GA ČR
Host item entry: Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, ISBN 80-239-6285-X

Institution: Institute of Scientific Instruments AS ČR (web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences.
Original record: http://hdl.handle.net/11104/0139519

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-36253


The record appears in these collections:
Research > Institutes ASCR > Institute of Scientific Instruments
Conference materials > Papers