Název: EOD (Electron Optical Design) Program Features
Překlad názvu: Vlastnosti programu EOD (Electron Optical Design)
Autoři: Lencová, Bohumila ; Zlámal, Jakub
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./, Skalský dvůr (CZ), 2006-05-22 / 2006-05-26
Rok: 2006
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]
The paper describes the program EOD used in the Institute of Scientific Instruments of AS CR for the design of electron optical devices. New possibilities of the user interface and software are illustrated on suitable examples. Článek popisuje program EOD používaný v ÚPT AV ČR pro návrh elektronově optických zařízení. Nové možnosti uživatelského interfejsu a programu jsou vhodně ilustrovány.
Klíčová slova: design of electron microscopes; numerical methods of ray tracing; optics of charged particles; the finite element method; user inetrface
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP)
Zdrojový dokument: Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, ISBN 80-239-6285-X

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0139512

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-36246


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference