Název: Závislost transportních vlastností Bi.sub.2./sub.Te.sub.3./sub. na jejich tloušťce
Překlad názvu: Thickness dependence of transport properties of Bi.sub.2./sub.Te.sub.3./sub. layers
Autoři: Zeipl, Radek ; Lošťák, P. ; Pavelka, Martin ; Žďánský, Karel ; Jelínek, Miroslav ; Walachová, Jarmila
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: NANO'02, Brno (CZ), 2002-11-19 / 2002-11-21
Rok: 2002
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: materials properties; thermoelectricity; thin films
Číslo projektu: CEZ:AV0Z2067918 (CEP), GA202/02/0098 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the National Conference NANO'02

Instituce: Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0114268

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-32533


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav fotoniky a elektroniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2011-07-01, naposledy upraven 2024-01-26.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet