Original title: Měření profilu koncentrace/složení na polovodičových nanovrstvách kontaktní metodou. (Measurement of concentration/composition profiles on semiconductor nanostructures with contract mothod)
Authors: Walachová, Jarmila ; Zelinka, Jiří ; Vaniš, Jan ; Hulicius, Eduard ; Šimeček, Tomáš
Document type: Papers
Conference/Event: Konference českých a slovenských fyziků /12./, Ostrava (CZ), 1996-09-02 / 1996-09-06
Year: 1997
Language: cze
Keywords: doping profiles; semiconductor heterojunctions
Project no.: GA202/94/1056 (CEP)
Funding provider: GA ČR
Host item entry: Dvanáctá konference Českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků

Institution: Institute of Photonics and Electronics AS ČR (web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences.
Original record: http://hdl.handle.net/11104/0113326

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-32316


The record appears in these collections:
Research > Institutes ASCR > Institute of Photonics and Electronics
Conference materials > Papers