Název: Appartus for sputter-profiline - Analysis of output data
Překlad názvu: Přístroj pro měření koncentračních profilů – Analýza výstupních dat
Autoři: Čermák, Jiří ; Stloukal, Ivo
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Metallurgical & Material Conference /14./, Hradec nad Moravicí (CZ), 2005-05-24 / 2005-05-26
Rok: 2005
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]
In this paper, a new modification of a commercial apparatus Edwards Coating system E306A is described that enables to perform diffusion measurements with radioactive tracers. The plan-parallel thin layers are removed by sputtering with Ar+ ions and the well defined fraction of the sputtered-off material is sequentially collected. The function of the apparatus is exemplified by the measurement of bulk diffusion coefficient of 65Zn in Fe40Ni40B20 alloy at T = 684 K. V tomto příspěvku je popsána nová modifikace přístroje Edwards Coating system E306A umožňující měření koncentračních profilů stopových množství radioaktivních nuklidů. Tenké planparalelní vrstvy jsou odebírány odprašováním Ar+ ionty a definovaný zlomek odprášeného materiálu je sekvenčně shromažďován, což umožňuje jeho analýzu a tím stanovení koncentračního profilu. Funkce přístroje je demonstrována na příkladu měření koeficientu objemové difúze 65Zn ve slitině Fe40Ni40B20 při teplotě T = 684 K.
Klíčová slova: amorphous alloys; diffusion; sputtering
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20410507 (CEP), GA106/04/0228 (CEP), IBS2041105 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA ČR, GA AV ČR
Zdrojový dokument: Metal 2005 /14./

Instituce: Ústav fyziky materiálů AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0112313

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-32135


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav fyziky materiálů
Konferenční materiály > Příspěvky z konference