Original title:
Slepá dekonvoluce obrazů kalibračních vzorků z elektronového mikroskopu
Translated title:
Blind Image Deconvolution of Electron Microscopy Images
Authors:
Schlorová, Hana ; Odstrčilík, Jan (referee) ; Walek, Petr (advisor) Document type: Master’s theses
Year:
2017
Language:
eng Publisher:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií Abstract:
[eng][cze]
V posledních letech se metody slepé dekonvoluce rozšířily do celé řady technických a vědních oborů zejména, když nejsou již limitovány výpočetně. Techniky zpracování signálu založené na slepé dekonvoluci slibují možnosti zlepšení kvality výsledků dosažených zobrazením pomocí elektronového mikroskopu. Hlavním úkolem této práce je formulování problému slepé dekonvoluce obrazů z elektronového mikroskopu a hledání vhodného řešení s jeho následnou implementací a porovnáním s dostupnou funkcí Matlab Image Processing Toolboxu. Úplným cílem je tedy vytvoření algoritmu korigujícícho vady vzniklé v procesu zobrazení v programovém prostředí Matlabu. Navržený přístup je založen na regularizačních technikách slepé dekonvoluce.
Blind deconvolution has spread around multiple technical fields in recent years. Problems with computational demands are no more its limitations. Blind deconvolution signal processing techniques are promising solution for enhancement of electron microscope performance. The aim of this work is the problem formulation and proposition of appropriate solution for blind deconvolution of electron microscope images. The final goal is to develop Matlab algorithm correcting aberrations arising from imperfections of image formation and its comparison with built-in Matlab approach implemented in Image Processing Toolbox. Proposed approach is given by regularization techniques of blind deconvolution.
Keywords:
Bayesovský rámec; deconvblind; elektronová mikroskopie; process degradace; regularizace; restaurace obrazu; Slepá dekonvoluce; zkreslení; Bayesian framework; Blind deconvolution; blur; deconvblind; degradation process; electron microscopy; image restoration; regularization
Institution: Brno University of Technology
(web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library. Original record: http://hdl.handle.net/11012/65490