Název: Příprava lamel pro transmisní elektronový mikroskop (TEM) pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB)
Překlad názvu: Focused ion beam sample preparation for transmission elektron microscopy
Autoři: Krajňák, Matúš ; Matolínová, Iva (vedoucí práce) ; Matolín, Vladimír (oponent)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2011
Jazyk: slo
Abstrakt: [eng] [cze]

Klíčová slova: FIB; lamela; SEM; TEM; FIB; lamela; SEM; TEM

Instituce: Fakulty UK (VŠKP) (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dostupné v digitálním repozitáři UK.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/20.500.11956/38040

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-302297


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Univerzita Karlova > Fakulty UK (VŠKP)
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce
 Záznam vytvořen dne 2017-05-09, naposledy upraven 2022-03-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet