Original title:
Rastrovací elektronová mikroskopie pomalými a Augerovými elektrony
Translated title:
Scanning electron microscopy by slow and Auger electrons
Authors:
Hrnčiřík, Petr Document type: Papers Conference/Event: PDS 2002, Brno (CZ), 2002-12-16
Year:
2002
Language:
cze Abstract:
[cze][eng] Hlavním cílem práce je srovnání signálů v pomalých a Augerových elektronech in situ v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Součástí práce je dokončení experimentálního zařízení, provedení simulací a výpočtů jeho vlastností a interpretace získaných obrazhových dat.The main goal of the work is comparison of signals in slow and Auger electrons in situ in scanning electron microscope. The project includes completion of the experimental device, accomplishment of simulations and computations of its properties and interpretation of the obtained image data.
Keywords:
Auger spectroscopy; computer simulations; microscopy with slow electrons Project no.: IAA1065901 (CEP), CEZ:AV0Z2065902 (CEP) Funding provider: GA AV ČR Host item entry: Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002, ISBN 80-238-9915-5
Institution: Institute of Scientific Instruments AS ČR
(web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences. Original record: http://hdl.handle.net/11104/0101205