Název: Electron Ray-Tracing for Numerical Determination of Aberrations
Autoři: Mynář, M. ; Vašina, R. ; Kolařík, Robert ; Lencová, Bohumila
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: EUREM /12./ - European Congress on Electron Microscopy, Brno (CZ), 2000-07-09 / 2000-07-14
Rok: 2000
Jazyk: eng
Abstrakt: Analytical computation of aberation of electrostatic and magnetostatic lenses is widely accepted and used. However, the determination of aberration coefficients from direct ray-tracing of optical elements with a curved optical axis, elements with overlapping electrostatic and magnetostatic fields, cathode lenses and electrostatic mirrors can bring benefits over the analytical methods.
Číslo projektu: CEZ:AV0Z2065902 (CEP), IAA1065804 (CEP), CT97-0700
Poskytovatel projektu: GA AV ČR, IC15
Zdrojový dokument: Proceedings of the 12th European Congress on Electron Microscopy, ISBN 80-238-5503-4
Poznámka: Související webová stránka: mailto:robert@isibrno.cz

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0100859

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-29461


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference