Název: Ion Beam Thin Film Deposition, Surface and Thin Film Analysis
Autoři: Šikola, T. ; Spousta, J. ; Zlámal, J. ; Průša, S. ; Lopour, F. ; Kalousek, R. ; Třískala, M. ; Tichopádek, P. ; Krejzlík, T. ; Nebojsa, A. ; Lencová, Bohumila
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Workshop '97 - Czech TU, Praha (CZ), 1997-01-20 / 1997-01-22
Rok: 1997
Jazyk: eng
Číslo projektu: GA202/94/0565 (CEP), CIPA CT94-0224
Poskytovatel projektu: GA ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of Workshop '97

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0100538

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-29384


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference