Název:
Nábojové hustoty a topologická analýza
Překlad názvu:
Charge densities and topological analysis
Autoři:
Šlouf, Miroslav Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Kolokvium výpočetní metody v RTG a neutronové strukturní analýze, Nové Hrady (CZ), 2003-06-16 / 2003-06-20
Rok:
2003
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Přednáška porovnává standardni rentgenostrukturni analýzu a přesnější metody analýzy elektronových hustot v krystalu založené na .kappa.-upřesňování a multipólovém upřesňování. Shrnuje, jaké výsledky může poskytnout studium detailu nabojových hustot a topologická analýza nábojových hustot. Na praktických příkladech ukazuje výpočty atomových nábojů, dvojného charakteru vazeb apod. jak z experimentálních dat, tak i pomocí teoretických, kvantově chemických výpočtů.Lecture compares conventional X-ray diffraction analysis on single crystals with more precise techniques based on kappa-refinement and multipole refinement. The results that can be obtained from precise charge denstity studies and topological analysis are listed. Examples taken from practice show how to calculate atomic charges, double-bond characters etc. from both experimental X-ray data and theoretical quantum chemistry calculations.
Klíčová slova:
charge density; electron density; X-ray diffraction Číslo projektu: KSK4050111 (CEP) Poskytovatel projektu: GA AV ČR Zdrojový dokument: Materials Structure, ISSN 1211-5894
Instituce: Ústav makromolekulární chemie AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0085035