Original title:
Vliv pracovních podmínek v environmentálním SEM na výsledky EDS
Translated title:
Influence of working conditions on results of EDS analysis in environmental SEM
Authors:
Kaplenko, Oleksii ; Chladil, Ladislav (referee) ; Čudek, Pavel (advisor) Document type: Bachelor's theses
Year:
2016
Language:
cze Publisher:
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií Abstract:
[cze][eng]
Bakalářská práce obsahuje princip funkce environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu (ESEM), problematiku detekce charakteristického rentgenového záření metodou energiově disperzní spektroskopie. Popisuje detekci rentgenového záření pomocí silicon drifted detektoru a také princip kvalitativní a kvantitativní rentgenové mikroanalýzy. Cílem této práce je studium vlivu pracovních podmínek v rastrovacím elektronovém mikroskopu VEGA3 XMU vybaveného Xflash 6 | 10 spektroskopem na výsledky rentgenové mikroanalýzy a jejich vyhodnocení.
The bachelor thesis contains an operating principle of the environmental scanning electron microscope (ESEM), issue of detection of characteristic X-Ray by using an energy dispersive spectroscopy method. The work describes detection of X-rays through silicon drifted detector, and also the principle of qualitative and quantitative X-ray microanalysis. The aim of this work is to study the influence of working conditions in the scanning electron microscope VEGA3 XMU equipped with Xflash 6 | 10 spectroscope on the results of X-ray microanalysis and their evaluations.
Keywords:
characteristic X-Ray; element analysis.; energy dispersive spectroscopy; environmental scanning electron microscope; Scanning electron microscope; silicon drifted detector; charakteristické rentgenové záření; energiově disperzní spektroskopie; environmentální rastrovací elektronový mikroskop; prvková analýza.; Rastrovací elektronový mikroskop; silicon drifted detektor
Institution: Brno University of Technology
(web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library. Original record: http://hdl.handle.net/11012/61604