Název:
Elektromigrace tavidlových zbytků na povrchu DPS
Překlad názvu:
Electromigration of Flux Residues on PCB Surface
Autoři:
Tylich, Ondřej ; Zatloukal, Miroslav (oponent) ; Starý, Jiří (vedoucí práce) Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok:
2016
Jazyk:
cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze][eng]
Diplomová práce seznamuje s problematikou elektromigrace, tavidel a tavidlových zbytků. Obsahuje návrh metody měření povrchového izolačního odporu, informace o vybraných typech tavidel. Zaměřuje se na vliv teploty, vlhkosti a frekvence. Práce popisuje praktické měření rezistivity i ionizovatelných nečistot tavidlem kontaminovaného SIR obrazce na DPS. Je použita konduktometrická metoda a metoda měření SIR dle IPC-25-B a sledován vliv vlhkosti, teploty a přiloženého napětí na změnu povrchového izolačního odporu. V závěru jsou dosažené výsledky diskutovány.
Diploma thesis introduces the problems of electromigration, fluxes and flux residues. It includes a proposal for methods of measuring surface insulation resistance, information about selected types of fluxes and conformal coatings. It focuses on the influence of temperature, humidity. There are applied conductometric method and method of measuring SIR by IPC-25-B. The thesis describes the practical measurement of SIR and ionic contamination of PCB covered with flux and influence of RH, temperature and applied voltage is evaluated and discussed.
Klíčová slova:
dendrid.; Elektromigrace; ionizovatelné nečistoty; konduktometrická metoda; tavidlo; tavidlové zbytky; conductometric method; dendrite.; Electromigration; flux; flux residues; ionizable impurities
Instituce: Vysoké učení technické v Brně
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/59910